熔接損耗值不穩(wěn)定/偏高

清潔V型槽，光纖夾具，防風(fēng)罩內(nèi)的反光鏡，物鏡。

如果具有二次護(hù)層的光纖有彎曲或卷曲記憶時，放置光纖時需使彎曲部分向上。

熔接損耗由切割角度，放電條件和光纖的清潔決定。請確保整備光纖的質(zhì)量。

電極老化需更換電極。

如果做完以上操作后，熔接損耗仍舊過高或不穩(wěn)定，請與代理商聯(lián)系。建議定期(至少一年一次)對設(shè)備進(jìn)行保養(yǎng)，以保證良好的熔接質(zhì)量。

光時域反射儀常見問題

光時域反射儀常見問題

1、 無法存貯測試結(jié)果

該故障引起的原因可以從以下幾點分析：

（1）存貯容量已滿（2）存貯信息有誤（3）存貯電路損壞

2、 操作個別選項無反應(yīng)

（1）該選項屬于非正常操作

（2）因個別按鍵失靈

（3）儀表反應(yīng)緩慢但并非無反應(yīng)

3、光時域反射儀無法開機(jī)

該故障引起的原因可以從以下幾點分析：

（1）電源供電不正常（2）主板損壞

4、電池?zé)o法充電

（1）電池組芯損壞（2）儀表充電電路損壞

2M誤碼儀

      2M誤碼儀用2Mb/s N*64Kb/s誤碼測試、離線測試、FAS、CRC-4、E-BIT等測試的儀器，如Enovo的3120C一樣，測試結(jié)果擁有很高的準(zhǔn)確率。

基本功能：

離線測試(中斷業(yè)務(wù)測試，75ohm匹配測試)/在線測試(跨接高阻測試)

成幀/非成幀測試

2Mb/s N*64Kb/s誤碼測試

FAS、CRC-4、E-BIT等測試

具有單時隙語音功能;

發(fā)送時鐘可選

單誤碼插入或比率誤碼插入功能

各種告警插入功能

LED告警和狀態(tài)指示

可選ITU-TG.

821,G. 826和M. 2100標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行測試結(jié)果分析