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發(fā)布時(shí)間:2021-01-06 08:16  
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貴金屬分析儀介紹
簡(jiǎn)單的“對(duì)準(zhǔn)即測(cè)”操作,使用方便直觀的大圖標(biāo)式用戶界面:操作員幾乎不需任何培訓(xùn),大面積4.3英寸彩色觸摸屏,即便在陽(yáng)光直射下也能清晰地看到檢驗(yàn)結(jié)果。測(cè)金儀報(bào)價(jià)測(cè)金儀報(bào)價(jià)貴金屬分析儀是企業(yè)理化分析中常用的一種普及型計(jì)量器具。操作簡(jiǎn)單方便,戴上手套也不受影響符合IP54 等級(jí)(相當(dāng)于 NEMA 3),能夠適應(yīng)惡劣的環(huán)境。
加強(qiáng)型防護(hù)窗口(用于Expert 及 Optimum)可防止X射線管和探頭在測(cè)試小部件和尖銳物體時(shí)受損;
可快速更換防護(hù)窗口:無需任何工具即可快速更換已損壞或玷污的窗口;
可按客戶要求定制檢驗(yàn)結(jié)果模式,以便于快速作出判斷:即顯示您所需重要信息,例如合號(hào)、元素成分、合格/不合格通知,以及元素的顯示順序。
時(shí)尚精巧的設(shè)計(jì)、可選配相機(jī),有助于準(zhǔn)確定位測(cè)量。
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貴金屬分析儀
北京京國(guó)藝科技發(fā)展有限公司成立于1993年,隸屬于中國(guó)國(guó)際文化交流中心,1998年響應(yīng)國(guó)家號(hào)召轉(zhuǎn)為地方企業(yè),是專業(yè)研制和生產(chǎn)精密儀器的高科技企業(yè)。高分辨率圖譜即時(shí)顯示,由不同色塊加以判斷區(qū)分,清晰明了,易于判別。多年來,產(chǎn)品以其優(yōu)良的品質(zhì),售后服務(wù)得到業(yè)內(nèi)人士的良好評(píng)價(jià),在有害元素檢測(cè)及首飾檢測(cè)行業(yè)內(nèi)發(fā)揮著重要的作用。
貴金屬分析儀
一、產(chǎn)品信息??:
貴金屬測(cè)試,采用新的科技分析X熒光光譜,對(duì)貴金屬成份進(jìn)行無損快速分析,該儀器采用新Si-PIN探測(cè)器,其分辨率為149±5eV,運(yùn)用于全球的基本參數(shù)法,能夠準(zhǔn)確無誤地分析出黃金、鉑金等材料中含有的其它少量雜質(zhì)元素,其穩(wěn)定性和可靠性均處于業(yè)內(nèi)水平。軟件控制儀器的各種行為,并反饋各種參數(shù),減低了儀器的維護(hù)難度,延長(zhǎng)工作時(shí)間。
二、應(yīng)用領(lǐng)域:
貴金屬(Pt、Au、Pd、Ag、Rh等)相關(guān)制品的生產(chǎn)、銷售、回收的檢測(cè);
用于各種金屬合金(銅合金、鐵合金、不銹鋼、錫合金等)的成份分析。
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金銀檢測(cè)儀的產(chǎn)品特點(diǎn)
性價(jià)比高,可以快速準(zhǔn)確檢測(cè)各種貴金屬,應(yīng)用廣泛
無損檢測(cè),不會(huì)對(duì)珠寶首飾造成損壞
操作簡(jiǎn)單,自動(dòng)化檢測(cè),無需配備專業(yè)人員
檢測(cè)快速,60秒內(nèi)即可得出直觀結(jié)果
北京京國(guó)藝科技發(fā)展有限公司本著多年貴金屬分析儀行業(yè)經(jīng)驗(yàn),專注貴金屬分析儀研發(fā)定制與生產(chǎn),先進(jìn)的貴金屬分析儀生產(chǎn)設(shè)備和技術(shù),建立了嚴(yán)格的產(chǎn)品生產(chǎn)體系,想要更多的了解,歡迎咨詢圖片上的熱線電話?。?!
光譜儀簡(jiǎn)介
以下內(nèi)容由北京京國(guó)藝科技發(fā)展有限公司為您提供,今天我們來分享貴金屬分析儀的相關(guān)內(nèi)容,希望對(duì)同行業(yè)的朋友有所幫助!
X射線熒光光譜分析儀分為能量色散型X射線熒光光譜分析儀(EDXRF)和波長(zhǎng)色散型X射線熒光光譜分析儀(WDXRF)。4、可用于質(zhì)檢中心、金廠、金店、銀行、典當(dāng)?shù)壬婕百F金屬的各行業(yè)。波長(zhǎng)色散型X射線熒光光譜分析儀是通過X射線的波長(zhǎng)特性,對(duì)X射線進(jìn)行分光,獲取各個(gè)光通道的計(jì)數(shù),從而得到樣品的成分及含量。該設(shè)備優(yōu)勢(shì)是準(zhǔn)確度高,但是設(shè)備造價(jià)高,維護(hù)成本高,樣品需要前處理,操作相對(duì)復(fù)雜。能量色散型X射線熒光光譜分析儀是通過X射線的粒子特性,獲取特征光譜的能量和計(jì)數(shù),從而得到樣品的成分及含量。該設(shè)備優(yōu)勢(shì)是造價(jià)低,維護(hù)成本低,樣品不需要前處理可直接測(cè)量,操作簡(jiǎn)單,但精度低于波長(zhǎng)色散型X射線熒光光譜分析儀。正是基于以上原理,貴金屬分析儀能夠快速檢測(cè)出貴金屬及其雜質(zhì)的成分及含量。
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