ICP光譜儀的特點(diǎn)

1、 爐中取的樣品只要打磨掉表面氧化皮,固體樣品即可放在樣品臺(tái)上激發(fā),免去了化學(xué)分析鉆取試樣的麻煩.對(duì)于鋁及銅、鋅等有色金屬樣品而言,可用小車(chē)床車(chē)去表面氧化皮即可.

2、 從樣品激發(fā)到計(jì)算機(jī)報(bào)出元素分析含量只需20-30秒鐘,速度非常快,有利于縮短冶煉時(shí)間,降低成本.特別是對(duì)那些容易燒損的元素,更便于控制其后的成份.

ICP光譜儀是什么構(gòu)成的？

一臺(tái)典型的ICP光譜儀主要由一個(gè)光學(xué)平臺(tái)和一個(gè)檢測(cè)系統(tǒng)組成。包括以下幾個(gè)主要部分：

1. 入射狹縫: 在入射光的照射下形成光譜儀成像系統(tǒng)的物點(diǎn)。

2. 準(zhǔn)直元件: 使狹縫發(fā)出的光線變?yōu)槠叫泄?。該?zhǔn)直元件可以是一獨(dú)立的透鏡、反射鏡、或直接集成在色散元件上，如凹面光柵光譜儀中的凹面光柵。

3. 色散元件: 通常采用光柵，使光信號(hào)在空間上按波長(zhǎng)分散成為多條光束。

4. 聚焦元件: 聚焦色散后的光束，使其在焦平面上形成一系列入射狹縫的像，其中每一像點(diǎn)對(duì)應(yīng)于一特定波長(zhǎng)。

5. 探測(cè)器陣列：放置于焦平面，用于測(cè)量各波長(zhǎng)像點(diǎn)的光強(qiáng)度。該探測(cè)器陣列可以是CCD陣列或其它種類(lèi)的光探測(cè)器陣列。

ICP光譜儀的目標(biāo)元素

ICP光譜儀是上世紀(jì)60年代提出、70年代迅速發(fā)展起來(lái)的，它的迅速發(fā)展和廣泛應(yīng)用是與其克服了經(jīng)典光源和原子化器的局限性分不開(kāi)的，那么ICP光譜儀的目標(biāo)元素都有哪些呢？下面小編就來(lái)介紹一下：

ICP光譜儀軟質(zhì)樣品（例如：銅、鋁、鋅、鉛）必須車(chē)削表面或用酒精濕磨.磨好的表面一定不要玷污（例如用手觸摸）.考慮到金屬熱漲冷縮效應(yīng),會(huì)影響光線穩(wěn)定性.溫度變化會(huì)影響儀器的熱平衡,對(duì)和一些電器件會(huì)造成不穩(wěn)定,若溫差較大對(duì)光路也會(huì)有影響.

ICP光譜儀對(duì)于鋼和鑄鐵（顆粒大小,對(duì)鋼是60到80之間,對(duì)鑄鐵是40到60之間）,建議用適合于本儀器樣品的砂紙干磨.砂紙一定不要被高合金含量的樣品污染（例如：應(yīng)該先用于低合金樣品，再用于高合金樣品）.樣品必須在清潔的、規(guī)范的砂紙上磨（沒(méi)有先前激發(fā)處理留下的激發(fā)的痕跡）.樣品表面不能被拋光（適時(shí)更新用過(guò)的砂紙）.必須確保樣品在磨的過(guò)程中沒(méi)有過(guò)熱（樣品應(yīng)該與砂紙只有短暫的接觸）。水平觀察方式的優(yōu)點(diǎn)是：由于整個(gè)“火焰”各個(gè)部分的光都可以被采集導(dǎo)致靈敏度高，對(duì)簡(jiǎn)單樣品有較好的檢出限。如果需要，樣品應(yīng)該用水冷卻，再干燥，再盡可能短的時(shí)間干磨.

ICP光譜儀可用標(biāo)樣中目標(biāo)元素的“真實(shí)濃度”與分析線對(duì)和強(qiáng)度比（R）擬合工作曲線（校準(zhǔn)曲線）。如果鐵含量變化過(guò)大，如高、中合金鋼，其影響不可忽略，需要用標(biāo)樣中目標(biāo)元素的“相對(duì)濃度”（或“濃度比”）與分析線對(duì)和強(qiáng)度比（R）擬合工作曲線，這就是我國(guó)光譜分析的前輩講的“誘導(dǎo)含量法”。由于徑向觀測(cè)的需要，炬管側(cè)面必須開(kāi)口，導(dǎo)致炬管的壽命大大降低，同時(shí)也改變了炬焰的形狀。如果希望用同一工作曲線同時(shí)分析高、中、低合金鋼，那就都要用“相對(duì)濃度”來(lái)校正基體含量的影響。更進(jìn)一步，如果既要校正基體含量的影響，又要校正共存元素的干擾，就應(yīng)該用“表觀濃度”來(lái)擬合工作曲線。

ICP光譜儀雖然本身測(cè)量準(zhǔn)確度很高，但測(cè)定試樣中元素含量時(shí)， 所得結(jié)果與真實(shí)含量通常不一致，存在一定誤差，并且受諸多因素的影響，有的材料本身含量就很低。

ICP光譜儀的來(lái)歷

ICP光譜儀在國(guó)內(nèi)的發(fā)展也不過(guò)幾十年的時(shí)間，不可謂短或長(zhǎng)。 電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀（簡(jiǎn)稱(chēng)ICP光譜儀），因?yàn)榫哂懈哽`敏度，高精密度，低基體效應(yīng)和具有一起多元素剖析能力等一系列特色，自1975年呈現(xiàn)產(chǎn)品儀器以來(lái)，很快在各剖析范疇得到廣泛應(yīng)用，變成資料、環(huán)境、地礦、冶金、食物、化工、生化、產(chǎn)品檢驗(yàn)及科研范疇通用的無(wú)機(jī)元素剖析東西。ICP光譜儀的構(gòu)造和技能也在不斷的改善和發(fā)展。1991年新的中階梯光柵固態(tài)檢測(cè)器ICP-OES儀器面世，即國(guó)內(nèi)所說(shuō)的全譜直讀電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀。1993年國(guó)外出產(chǎn)的該類(lèi)儀器進(jìn)入中國(guó)市場(chǎng)，目前國(guó)內(nèi)還沒(méi)有制造商將全譜直讀電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀產(chǎn)業(yè)化等離子體光譜與其它大型精密儀器一樣，需要在必定的環(huán)境下運(yùn)轉(zhuǎn)，失掉這些條件，不僅儀器的運(yùn)用效果欠好，并且改動(dòng)儀器的檢查功能，乃至形成損壞，縮短壽數(shù)。依據(jù)光學(xué)儀器的特色，對(duì)環(huán)境溫度和濕度有必定請(qǐng)求。假如溫度改變太大，光學(xué)組件受溫度改變的影響就會(huì)發(fā)作譜線漂移，形成測(cè)定數(shù)據(jù)不穩(wěn)定，ICP光譜儀通常室溫請(qǐng)求維持在70～75攝氏度間的一個(gè)固定溫度，溫度改變應(yīng)小于±1攝氏度。(2)ICP光譜儀的供電，保證儀器運(yùn)行時(shí)，不會(huì)因?yàn)榫€路的電壓降過(guò)大，造成儀器損壞，影響儀器壽命。濕度對(duì)高頻發(fā)作器的影響也十分重要，濕度過(guò)大，輕則等離子體不簡(jiǎn)單點(diǎn)著，重則高壓電源及高壓電路放毀組件，如功率管隔直陶瓷電容擊穿，輸出電路阻抗匹配、網(wǎng)絡(luò)中的可變電容放電等，以致?lián)p壞高頻發(fā)作器。ICP光譜儀通常室內(nèi)濕度應(yīng)小于百分之70，控制在百分之45～60之間，應(yīng)有空氣凈化設(shè)備。曩昔因?yàn)榛ㄊ┕?，我們的環(huán)境條件很差，乃至儀器室多次被水淹，受潮及室溫改變過(guò)大，儀器不是定位艱難即是常常發(fā)作毛病。搬到新的儀器室后條件改善了，儀器運(yùn)轉(zhuǎn)就正常多了。。以上就是對(duì)ICP光譜儀的來(lái)歷和一些知識(shí)的介紹，希望對(duì)大家對(duì)認(rèn)識(shí)ICP光譜儀有所幫助。