維修ICP光譜儀的技巧

今天，ICP光譜儀小編在這里給大家分享一些關于維修ICP光譜儀的技巧，掌握這些方法有助于節(jié)省維修時間，提高工作效率。

當光譜儀發(fā)生故障時，尤其是發(fā)生比較復雜的綜合性故障，解決這種故障應該先從比較容易解決的故障入手，如檢修儀器的電路板時，先檢查電阻、電容、二極管等，再檢查集成電路、大功率模塊、微處理器IC等。

隨著電腦在光譜儀中的應用，使儀器的檢測水平大幅提高，功能更智能，許多故障都可以通過電腦自帶的診斷程序進行檢測。因此，當光譜儀出現(xiàn)問題時，我們可以先用電腦檢查軟件程序運行是否正常，再分析硬件是否有問題。

光譜儀一般都會有一套完整的體系，有許多輔助設備，當系統(tǒng)出現(xiàn)故障時，應先檢查電腦、穩(wěn)壓器等輔助設施，再看儀器主機運行情況。

任何儀器都是靠人來操作的，所以在儀器出現(xiàn)異常時，首先判斷是否存在人為的問題。如在操作程序時是否輸錯數(shù)據(jù)，忘記打開某個開關，看錯某些標志等。在嚴格按操作程序操作，并排除人為誤操作的基礎上，再分析儀器自身運行是否存在問題。

ICP發(fā)射光譜常見問題

　1、影響等離子體溫度的因素有： 載氣流量：流量增大，中心部位溫度下降; 載氣的壓力：激發(fā)溫度隨載氣壓力的降低而增加; 頻率和輸入功率：激發(fā)溫度隨功率增大而，近似線性關系，在其他條件相同時，增加頻率，放電溫度降低; 第三元素的影響：引入低電離電位的釋放劑(如T1)的等離子體，電子溫度將增加。頻率和輸入功率：激發(fā)溫度隨功率增大而，近似線性關系，在其他條件相同時，增加頻率，放電溫度降低。

　　2、電離干擾的消除和抑制 原子在火焰或等離子體的蒸氣相中電離而產(chǎn)生的干擾。它使火焰中分析元素的中性原子數(shù)減少，因而降低分析信號。在標準和分析試樣中加入過量的易電離元素，使火焰或等離子體中的自由電子濃度穩(wěn)定在相當高的水平上，從而抑制或消除分析元素的電離。必須確保樣品在磨的過程中沒有過熱（樣品應該與砂紙只有短暫的接觸）。此外，由于溫度愈高，電離度愈大，因此，降低溫度也可減少電離干擾。

ICP光譜儀的來歷

ICP光譜儀在國內的發(fā)展也不過幾十年的時間，不可謂短或長。 電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀（簡稱ICP光譜儀），因為具有高靈敏度，高精密度，低基體效應和具有一起多元素剖析能力等一系列特色，自1975年呈現(xiàn)產(chǎn)品儀器以來，很快在各剖析范疇得到廣泛應用，變成資料、環(huán)境、地礦、冶金、食物、化工、生化、產(chǎn)品檢驗及科研范疇通用的無機元素剖析東西。ICP光譜儀的構造和技能也在不斷的改善和發(fā)展。1991年新的中階梯光柵固態(tài)檢測器ICP-OES儀器面世，即國內所說的全譜直讀電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀。1993年國外出產(chǎn)的該類儀器進入中國市場，目前國內還沒有制造商將全譜直讀電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀產(chǎn)業(yè)化等離子體光譜與其它大型精密儀器一樣，需要在必定的環(huán)境下運轉，失掉這些條件，不僅儀器的運用效果欠好，并且改動儀器的檢查功能，乃至形成損壞，縮短壽數(shù)。依據(jù)光學儀器的特色，對環(huán)境溫度和濕度有必定請求。假如溫度改變太大，光學組件受溫度改變的影響就會發(fā)作譜線漂移，形成測定數(shù)據(jù)不穩(wěn)定，ICP光譜儀通常室溫請求維持在70～75攝氏度間的一個固定溫度，溫度改變應小于±1攝氏度。濕度對高頻發(fā)作器的影響也十分重要，濕度過大，輕則等離子體不簡單點著，重則高壓電源及高壓電路放毀組件，如功率管隔直陶瓷電容擊穿，輸出電路阻抗匹配、網(wǎng)絡中的可變電容放電等，以致?lián)p壞高頻發(fā)作器。ICP光譜儀通常室內濕度應小于百分之70，控制在百分之45～60之間，應有空氣凈化設備。試樣多數(shù)不需經(jīng)過化學處理就可分析，且固體、液體試樣均可直接分析，同時還可多元素同時測定，若用光電直讀光譜儀，則可在幾分鐘內同時作幾十個元素的定量測定。曩昔因為基建施工，我們的環(huán)境條件很差，乃至儀器室多次被水淹，受潮及室溫改變過大，儀器不是定位艱難即是常常發(fā)作毛病。搬到新的儀器室后條件改善了，儀器運轉就正常多了。。以上就是對ICP光譜儀的來歷和一些知識的介紹，希望對大家對認識ICP光譜儀有所幫助。