鋼研納克SparkCCD7000

高分辨率 CCD 檢測(cè)器

像素?cái)?shù)：3648 46 全行業(yè)較高

像素尺寸：8μm 全行業(yè)較小

精薄鍍膜，紫外波段檢出限更低，可做低含量 N

萬(wàn)級(jí)超凈環(huán)境下打造較優(yōu)光學(xué)系統(tǒng)

帕邢 - 龍格結(jié)構(gòu)羅蘭光學(xué)系統(tǒng)，無(wú)像差，分辨率均勻

高發(fā)光全息光柵，光柵焦距 500mm, 刻線為 2700 條 /mm，全行業(yè)較高

線分辨率 0.7407nm/mm

像素分辨率 0.005926nm

譜線范圍：130-800nm（可分析 N、Li、 Na、K 等元素）

智能控制系統(tǒng)，再啟動(dòng)耗時(shí)行業(yè)較低

潮汐式?jīng)_洗方式，冷機(jī)（關(guān)機(jī) 12 小時(shí)）啟動(dòng)只需 30min，熱機(jī)啟動(dòng)時(shí)間 5min

智能判斷分析間隔時(shí)間，合理補(bǔ)充氣，降低氣消耗

60ml/min 超低待機(jī)流量，一瓶氣 24 小時(shí)待機(jī) 70 天

分片式曝光，痕量元素識(shí)別強(qiáng)度大幅提高，檢出限更低

一次激發(fā)，分片曝光，同時(shí)采集，同時(shí)回?cái)?shù)

獨(dú)立控制不同 CCD 的積分曝光時(shí)間

提升痕量元素的強(qiáng)度，降低儀器的檢出限

隨波段調(diào)節(jié)積分時(shí)間，提升儀器的 穩(wěn)定性

操作火花直讀光譜儀時(shí)應(yīng)注意要點(diǎn)

工作曲線的標(biāo)準(zhǔn)化操作和描跡操作

①標(biāo)準(zhǔn)化操作每班進(jìn)行一次。如果操作人員認(rèn)為激發(fā)標(biāo)鋼分析結(jié)果穩(wěn)定，可以用上個(gè)班的標(biāo)準(zhǔn)化數(shù)據(jù)。

在分析過(guò)程中個(gè)別元素偏離太大時(shí)，可以再實(shí)行標(biāo)準(zhǔn)化，保證分析結(jié)果的準(zhǔn)確。

②標(biāo)準(zhǔn)化操作時(shí)，研磨標(biāo)準(zhǔn)化樣品較好用新的砂輪片面。

③、標(biāo)準(zhǔn)化過(guò)程中，要檢查標(biāo)準(zhǔn)化樣品的號(hào)碼，按需要輸入。不可粗心大意的輸入。

④、標(biāo)準(zhǔn)化操作完成以后，要檢查一下系數(shù)和補(bǔ)償值，與上一次做對(duì)比，不要變動(dòng)太大。

多品種、小批量特點(diǎn)，如何控制質(zhì)量？鋼研納克：部件模塊化、標(biāo)準(zhǔn)化

從新產(chǎn)品的研發(fā)開(kāi)始，設(shè)計(jì)方案就要經(jīng)過(guò)公司的可靠性的論證和評(píng)審。如，設(shè)計(jì)上是怎樣去避免局部過(guò)熱、振動(dòng)等?？煽啃允莾赡昵俺闪?，鋼研納克近推出的CCD6000、全譜ICP-OES、鎘大米檢測(cè)儀器都是從設(shè)計(jì)開(kāi)始就經(jīng)過(guò)該的評(píng)審。而對(duì)于750和1000型火花直讀光譜則是重新經(jīng)過(guò)評(píng)估、并改進(jìn)。

中試階段則需要對(duì)外通過(guò)電子部5所的可靠性試驗(yàn)。鋼研納克與電子部5所達(dá)成了戰(zhàn)略合作協(xié)議參照國(guó)軍標(biāo)的方法驗(yàn)證儀器的可靠性和故障情況。如，模擬極端環(huán)境條件進(jìn)行電磁干擾、高低溫循環(huán)、濕度、振動(dòng)等試驗(yàn)，進(jìn)而指導(dǎo)改進(jìn)提高產(chǎn)品的可靠性?！坝捎趯?shí)行了可靠性試驗(yàn)，電路板等器件經(jīng)過(guò)了改進(jìn)，儀器的故障率有所下降，”鋼研納克北京儀器分公司總經(jīng)理袁良經(jīng)說(shuō)到，“經(jīng)過(guò)了發(fā)現(xiàn)問(wèn)題、解決問(wèn)題的中試階段，之后才有可能投入生產(chǎn)?！?

由于光電直讀光譜儀器多品種、小批量的特點(diǎn)，不適合流水線、大批量生產(chǎn)，鋼研納克采取的措施是部件盡可能模塊化、標(biāo)準(zhǔn)化，一些模塊可以在750型、1000型上通用。其次，在內(nèi)部過(guò)程工藝上嚴(yán)格要求，下道工序要對(duì)上道工序進(jìn)行檢查，通過(guò)了才能轉(zhuǎn)到下一道工序。另外，對(duì)于光電直讀光譜儀器來(lái)說(shuō)，一般出廠前成品檢驗(yàn)組測(cè)試1-2個(gè)月的時(shí)間，在這個(gè)環(huán)節(jié)大部分隱患都可能暴露出來(lái)，相應(yīng)的也給了工廠時(shí)間和機(jī)會(huì)去解決問(wèn)題。

直讀光譜儀

清洗激發(fā)臺(tái)的內(nèi)表面，主要是避免殘留內(nèi)壁的粉塵放電影響分析結(jié)果。通常每激發(fā)100—200次應(yīng)清理一次。電極與激發(fā)面之間的距離，必須按極距要求調(diào)整好，如果與激發(fā)面的距離太大，試樣不易激發(fā)，如果電極與激發(fā)面的距離太小，曝光時(shí)放電電流太大，以至于與儀器各參數(shù)不相匹配，使測(cè)定結(jié)果與實(shí)際結(jié)果之間有差異，影響測(cè)定的準(zhǔn)確性。因此必須將電極與激發(fā)面的距離調(diào)整準(zhǔn)確，清洗激發(fā)臺(tái)和電極后一定要重視這個(gè)問(wèn)題。