晶體諧振器的激勵(lì)功率等級(jí)重要性

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KOAN 石英晶振的激勵(lì)等級(jí)可以按照晶振的各種工作狀態(tài)下的能耗，或者按照電流的等級(jí)進(jìn)行表示，如果利用過(guò)大的電力來(lái)使晶振工作，有可能產(chǎn)生頻率不穩(wěn)定等特性惡化，以及導(dǎo)致石英晶片破損的危險(xiǎn)。建議進(jìn)行電路設(shè)計(jì)時(shí)，確認(rèn)一下所使用的激勵(lì)等級(jí)不超過(guò)大激勵(lì)等級(jí)。如果激勵(lì)等級(jí)過(guò)低，也會(huì)帶來(lái) DLD 問(wèn)題或者不起振。

KOAN 晶體諧振器使用過(guò)程常見(jiàn)問(wèn)題介紹

晶體振蕩回路頻率不準(zhǔn)，溫度變化精度不準(zhǔn)，批量使用出現(xiàn)不起振的，工作一段時(shí)間出現(xiàn)不工作的現(xiàn)象，頻率不準(zhǔn)確超出出廠標(biāo)準(zhǔn)，造成通訊錯(cuò)誤，IC 通訊異常，以上情況都需要考慮晶體質(zhì)量可能出現(xiàn)問(wèn)題，需要交給供應(yīng)做質(zhì)量分析報(bào)告，如果確認(rèn)不是晶體質(zhì)量出現(xiàn)問(wèn)題，應(yīng)考慮晶體振蕩回路沒(méi)有匹配好，或者選型錯(cuò)誤，或者功率問(wèn)題。

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晶體諧振器工作一段時(shí)間后出現(xiàn)停振現(xiàn)象分析

通過(guò)交叉試驗(yàn)發(fā)現(xiàn)晶體損壞，如果是個(gè)別晶體損壞，應(yīng)考慮 IC 驅(qū)動(dòng)功率沒(méi)有設(shè)置好，跟 IC 供應(yīng)溝通，設(shè)置好晶體端口的驅(qū)動(dòng)功率，或者更換 IC。如果是批量晶體損壞，可考慮驅(qū)動(dòng)功率過(guò)大問(wèn)題。如果電路調(diào)試階段已經(jīng)發(fā)現(xiàn)晶體有少量不起振，很可能是晶體批次質(zhì)量存在問(wèn)題，先交給工廠做質(zhì)量分析

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