一六儀器 專業(yè)測厚儀 多道脈沖分析采集,先進(jìn)EFP算法  X射線熒光鍍層測厚儀 

應(yīng)用于電子元器件,LED和照明,家用電器,通訊,汽車電子領(lǐng)域.EFP算法結(jié)合精準(zhǔn)定位決了各種大小異形多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析的業(yè)界難題

一六 熒光測厚儀 十年以上研發(fā)團(tuán)隊 集研發(fā)生產(chǎn)銷售一體

元素分析范圍:氯(CI)- 鈾(U)   厚度分析范圍:各種元素及有機(jī)物

一次可同時分析:23層鍍層,24種元素 厚度檢出限:0.005umxiao測量面積0.002m㎡  深凹槽20mm以上

鍍層厚度分析儀使用注意事項

1．儀器供電電壓必須與儀器銘牌上的電壓一致。儀器必須使用三線插頭連到一個已接地的插座上。

2．鍍層厚度分析儀為精密儀器，建議配備的穩(wěn)壓電源。計算機(jī)和儀器應(yīng)配備不間斷電源（UPS）。

3．鍍層厚度分析儀應(yīng)特別注意與存在電磁的場合隔離開來。

4．儀器適合在10~40℃（50~104℉）的環(huán)境溫度下操作使用，在0~50℃（32~122℉）的溫度下存放。操作和存放的允許濕度范圍在0~65%之間（非冷凝）。在操作過程中，環(huán)境溫度和濕度應(yīng)保持恒定。

5．儀器曝曬在陽光下時溫度極易超過50℃。所以請不要在這樣的環(huán)境下操作和存放儀器，以避免高溫對儀器造成損害。

6．為避免短路，嚴(yán)禁儀器與液體直接接觸。如果液體進(jìn)入儀器，請立刻關(guān)閉儀器并在重新使用前請技術(shù)人員整體檢查儀器。

7．鍍層厚度分析儀不能用于酸性環(huán)境和場合。

8．不要弄臟和刮擦元素片或調(diào)校標(biāo)準(zhǔn)片，否則會造成讀數(shù)錯誤。

9．不要用任何機(jī)械或化學(xué)的方法清除元素片或調(diào)校標(biāo)準(zhǔn)片上的污物。如果必要的話，可以用一塊不起毛的布輕輕擦除臟物。

上照式：通常都有Z軸可移動，所以可對形狀復(fù)雜的樣品（如凹面內(nèi)）做定位并且測試，一般可定位到2mm以內(nèi)的深度，如Thick800A，另外有些廠商在此基礎(chǔ)上配備了可變焦裝置，搭配先進(jìn)的算法，可定位到80mm以內(nèi)的深度，如XDL237

下照式：通常都沒有Z軸可移動，所以不可對凹面等無法直接接觸測試窗口的位置進(jìn)行定位并測試，但操作簡單，造價相對低；部分廠商或款式儀器搭載變焦裝置也可測試復(fù)雜形狀樣品，同時也抬高了價格

江蘇一六儀器   X射線熒光光譜儀XTU/X-RAY系列 

技術(shù)參數(shù)

X射線裝置：W靶微聚焦加強(qiáng)型射線管

準(zhǔn)直器φ 0.05 mm  ；φ 0.1 mm；φ 0.2 mm；φ 0.5 mm； 準(zhǔn)直器任意選擇或者任意切換

近測距光斑擴(kuò)散度：9%

測量距離：具有距離補(bǔ)償功能，可改變測量距離，能測量凹凸異型樣品，變焦距離0-30mm(特殊要求可以升級到90mm)

樣品觀察：1/2.5彩色CCD，變焦功能對焦方式高敏感鏡頭，手動對焦

放大倍數(shù)：光學(xué)38-46X，數(shù)字放大40-200倍

隨機(jī)標(biāo)準(zhǔn)片：十二元素片、Ni/Fe 5um、Au/Ni/Cu 0.1um/2um 

其它附件：聯(lián)想電腦一套、噴墨打印機(jī)、附件箱