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發(fā)布時間:2021-04-10 21:13  
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儀一六儀器 快速精準(zhǔn)分析膜厚儀穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng),先進(jìn)的解譜方法,解決各種大小多層多元素的涂鍍層厚度分析,
微聚焦射線裝置:可檢測面積小于0.002mm2的樣品,可測試各微小的部件.
測厚儀分類:
一、磁性式
二、渦電流式
三、紅外測厚儀
四、電解式(庫倫法)
五、金相測試法
六、非破壞熒光式(X光)
具體講下渦流測厚儀原理如下:
1.渦流測厚儀當(dāng)載有高頻電流的探頭線圈置于被測金屬表面時,由于高頻磁場的作用而使金屬體內(nèi)產(chǎn)生渦流,此渦liu產(chǎn)生的磁場又反作用于探頭線圈,使其阻抗發(fā)生變化,此變化量與探頭線圈離金屬表面的距離(即覆蓋層的厚度)有關(guān),因而根據(jù)探頭線圈阻抗的變化可間接測量金屬表面覆蓋層的厚度。常用于測定鋁材上的氧化膜或鋁、銅表面上其他絕緣覆蓋層的厚度。磁性測厚儀在測定各種導(dǎo)磁材料的磁阻時,測定值會因其表面非導(dǎo)磁覆蓋層厚度的不同而發(fā)生變化。
2.同位素測厚儀利用物質(zhì)厚度不同對輻射的吸收與散射不同的原理,可以測定薄鋼板、薄銅板、薄鋁板、硅鋼片、合金片等金屬材料及橡膠片,塑料膜,紙張等的厚度。常用的同位素射線有γ射線、β射線等。
江蘇一六儀器 國內(nèi)外通力合作打造高性價比X熒光測厚儀 穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng),獨(dú)特聚焦和變距設(shè)計,多元EFP算法,簡便快速測試各種涂鍍層的厚度及成分比例
測厚儀的應(yīng)用:
1、激光測厚儀是利用激光的反射原理,根據(jù)光切法測量和觀察機(jī)械制造中零件加工表面的微觀幾何形狀來測量產(chǎn)品的厚度,是一種非接觸式的動態(tài)測量儀器。它可直接輸出數(shù)字信號與工業(yè)計算機(jī)相連接,并迅速處理數(shù)據(jù)并輸出偏差值到各種工業(yè)設(shè)備。
2、X射線測厚儀利用X射線穿透被測材料時,X射線的強(qiáng)度的變化與材料的厚度相關(guān)的特性,滄州歐譜從而測定材料的厚度,是一種非接觸式的動態(tài)計量儀器。它以PLC和工心,采集計算數(shù)據(jù)并輸出目標(biāo)偏差值給軋機(jī)厚度控制系統(tǒng),達(dá)到要求的軋制厚度。X射線熒光分析儀的不斷完善和發(fā)展所帶動的X射線熒光分析技術(shù)已被廣泛用于冶金、地質(zhì)、礦物、石油、化工、生物、刑偵、考古等諸多部門和領(lǐng)域。主要應(yīng)用行業(yè):有色金屬的板帶箔加工、冶金行業(yè)的板帶加工
。
一六儀器---鍍層測厚儀|光譜測厚儀|X-ray測厚儀|X熒光測厚儀|凃?qū)幽ず駜x
性能優(yōu)勢:
下照式設(shè)計:可以快速方便地定位對焦樣品。
無損變焦檢測:可對各種異形凹槽進(jìn)行無損檢測,凹槽深度范圍0-90mm。
微聚焦射線裝置:可檢測面積小于0.002mm2的樣品,可測試各微小的部件。
精密微型滑軌:快速精準(zhǔn)定位樣品。
EFP先進(jìn)算法軟件:多層多元素,甚至有同種元素在不同層也難不倒EFP算法軟件。
X射線測厚儀應(yīng)用在哪些方面
適用范圍:生產(chǎn)鋁板、銅板、鋼板等冶金材料為產(chǎn)品的企業(yè),可以與軋機(jī)配套,應(yīng)用于熱軋、鑄軋、冷軋、箔軋。其中, x射線測厚儀還可以用于冷軋、箔軋和部分熱軋的軋機(jī)生產(chǎn)過程中對板材厚度進(jìn)行自動控制。
為了讓我們生產(chǎn)的產(chǎn)品更符合客戶的要求,那么找到適用于我們產(chǎn)品的測厚儀就非常重要了,因此如果不了解應(yīng)該使用哪種測厚儀,較好的方法就是咨詢客服,在專業(yè)的角度上給你一個建議,也可以了解下產(chǎn)品信息。