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山西漫反射灰板反射率定做量大從優(yōu) 景頤光電廠家直售

發(fā)布時(shí)間:2021-09-01 16:42  

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視頻作者:廣州景頤光電科技有限公司











漫反射板

廣州景頤光電科技有限公司是智能檢測(cè)識(shí)別信息技術(shù)和服務(wù)提供商,布局涉及光電檢測(cè)、、紅外紫外、生物識(shí)別、基因檢測(cè)診斷等專業(yè),擁有自主核心技術(shù),廣泛服務(wù)于工業(yè)、交通、金融、、公共、等領(lǐng)域,是國(guó)家火炬計(jì)劃重點(diǎn)高新技術(shù)企業(yè),

廣州景頤光電科技有限公司是以技術(shù)開發(fā)和技術(shù)推廣應(yīng)用為重點(diǎn)的技術(shù)型公司,集研發(fā)、生產(chǎn)、銷售為一體。

公司以“科技創(chuàng)優(yōu)、誠(chéng)意中興”為目標(biāo),以滿足市場(chǎng)技術(shù)需求為宗旨,以光機(jī)電液一體化為技術(shù)特色,在光電檢測(cè)儀器儀表、機(jī)電自動(dòng)化設(shè)備、生產(chǎn)自動(dòng)檢測(cè)及控制等領(lǐng)域,為企事業(yè)及單位提供產(chǎn)品及技術(shù)服務(wù)。公司自主研發(fā)的產(chǎn)品因技術(shù)而,因用心而精致。

廣州景頤光電科技有限公司引入信息化工具,建立了較為完善的現(xiàn)代化企業(yè)管理制度。并提出“衡以值 工于用”企業(yè)文化核心,確立了以提供解決方案為的研發(fā)思路,以科技為發(fā)展的源動(dòng)力,堅(jiān)持致力于空間環(huán)境模擬設(shè)備、光電測(cè)試、計(jì)量檢測(cè)、環(huán)境監(jiān)測(cè)、精密機(jī)械、航天等應(yīng)用產(chǎn)品技術(shù)的研究。以客戶需求為出發(fā)點(diǎn),充分利用技術(shù)優(yōu)勢(shì)和資源優(yōu)勢(shì)為客戶提供解決方案和設(shè)備供應(yīng)等一站式集成服務(wù)。


積分球測(cè)試過程中由于積分球本身因素還是存在一定誤差的,我們盡量減少積分球由于本身因素所產(chǎn)生的誤差。不產(chǎn)生誤差的積分球我們稱之為理想積分球,要想達(dá)這種理想狀態(tài)需要具備以下幾方面條件:

1、積分球的內(nèi)部表面需為一個(gè)完整的幾何形球面,半徑處處相等;





2、積分球內(nèi)壁是中性均勻漫反射面,對(duì)各類波長(zhǎng)的入射光線都具有同樣的漫反射比;

3、積分球內(nèi)沒有任何物體,發(fā)光光源也只能被看作是只發(fā)光并沒有實(shí)物的抽象光源。


將光源變成平行光后直接照射在安裝于兩維轉(zhuǎn)臺(tái)上的漫反射板上,利用帶有干涉濾光片的探測(cè)器測(cè)量漫反射板的反射光,轉(zhuǎn)動(dòng)兩維轉(zhuǎn)臺(tái),即可獲得干涉濾光片透射波長(zhǎng)的漫反射板角反射率特性。該裝置的優(yōu)點(diǎn)是結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單,雜散光影響較小;缺點(diǎn)是測(cè)量波長(zhǎng)受干涉濾光片透射中心波長(zhǎng)的限制,每次只能進(jìn)行單一光譜波長(zhǎng)漫反射板角反射特性的測(cè)量。即使采用多個(gè)探測(cè)器也只能進(jìn)行少數(shù)幾個(gè)分離波長(zhǎng)的測(cè)量,而且這也加重了轉(zhuǎn)動(dòng)部件的重量,使測(cè)量系統(tǒng)變得復(fù)雜。

利用漫反射板 BRDF 測(cè)量裝置測(cè)量,這類裝置的工作原理是將連續(xù)光源發(fā)出的光經(jīng)聚光鏡聚焦到單色儀的入射狹縫上,單色儀將連續(xù)光源發(fā)出的光分光,從單色儀出射狹縫的輸出即為所要求光譜分辨率的單色光,此單色光經(jīng)準(zhǔn)直光學(xué)部件準(zhǔn)直后變成平行光照射在安裝于兩維轉(zhuǎn)臺(tái)上的待測(cè)漫反射板上,同樣由兩維轉(zhuǎn)臺(tái)的轉(zhuǎn)動(dòng),即可獲得單色儀輸出波長(zhǎng)漫反射板的角反射特性。掃描單色儀的色散元件,可改變單色儀輸出波長(zhǎng),從而可獲得設(shè)計(jì)光譜范圍內(nèi)漫反射板的雙向反射函數(shù)分布函數(shù)。該方法的優(yōu)點(diǎn)是克服了上述方法只能進(jìn)行單波長(zhǎng)測(cè)量的缺點(diǎn),可以獲得較寬光譜范圍內(nèi)不同波長(zhǎng)的角譜反射特性。缺點(diǎn)是光源經(jīng)過分光、多次反射和折射變成平行光照射在漫反射板上,已經(jīng)變得很微弱,必須對(duì)照射在漫反射板上的雜散光嚴(yán)格控制。這增加了系統(tǒng)的復(fù)雜性;否則由于外部雜散光的干擾,將會(huì)大大降低測(cè)量精度。







漫反射率的測(cè)量有相對(duì)測(cè)量法和測(cè)量法,相對(duì)測(cè)量法先測(cè)出被測(cè)目標(biāo)的漫反射能量和已知反射率的標(biāo)準(zhǔn)反射板的漫反射能量,再用其比乘以標(biāo)準(zhǔn)反射板的漫反射率,即可得到被測(cè)目標(biāo)漫反射率。測(cè)量法則不使用標(biāo)準(zhǔn)反射板定標(biāo),直接根據(jù)入射光、漫反射光能量和發(fā)射接收光學(xué)系統(tǒng)參數(shù)計(jì)算漫反射率。


在實(shí)際應(yīng)用中,由于目標(biāo)的漫反射特性與朗伯體并不完全一致,其反射特性可能會(huì)隨角度變化( 即K值的理論值并不完全按余弦規(guī)律變化) ,所以測(cè)量角度的選擇會(huì)對(duì)測(cè)量結(jié)果帶來一定的影響,導(dǎo)致精度下降。但對(duì)于景頤光電的漫反射目標(biāo)板,其偏離程度不會(huì)太大,測(cè)試結(jié)果仍具有一定的科研指導(dǎo)意義。