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發(fā)布時間:2021-04-01 03:26  
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耐電流參數(shù)測試儀 High Current Parameter Tester HCT High current test耐電流測試儀
★HCT測試,High current test,耐電流測試,Current loading test
耐電流測試是測試PCB產(chǎn)品的孔互聯(lián)可靠性的一種測試方法。產(chǎn)品,包括全自動激光打標(biāo)影像檢測機,PCB自動高電流測試機(HCT),PCB全自動多通道高壓測試機(Hi-Pot),PCB熱盤高壓測試機,多通道RF天線測試系統(tǒng),TDR阻抗測試系統(tǒng),條形碼批量掃描系統(tǒng)等。耐電流測試是在特殊設(shè)計的孔鏈上施加一定的直流電流,并持續(xù)一段時間,電流在孔鏈上產(chǎn)生焦耳熱,熱量傳導(dǎo)到孔附近的基材,基材受熱膨脹, Z方向尺寸變大,產(chǎn)生膨脹應(yīng)力,作用于孔上下焊盤之間,當(dāng)孔的互聯(lián)可靠性不良時,膨脹應(yīng)力會導(dǎo)致孔斷裂,從而檢測出孔的互聯(lián)可靠性不良。
耐電流測試具有快速的特點。
耐電流測試具有直觀的特點。
耐電流測試具有全l面的特點,所有印制電路板在制板上均可以設(shè)置孔鏈。
耐電流參數(shù)測試儀主要特點如下
●測試過程數(shù)據(jù)表格顯示
樣品測試完成后,樣品的測試條件以及測試結(jié)果顯示在測試表格中。
測試結(jié)果是否失效統(tǒng)計顯示。
表格數(shù)據(jù)可以導(dǎo)出為MS Excel格式文件。
保存的數(shù)據(jù)也可以重新調(diào)入表格顯示。
●測試樣品開路檢測和探針接觸不良檢測
測試中,如果發(fā)生樣品失效或者開路,儀器可以自動檢測并判斷,并對用戶進行提示。
測試中,如果探針接觸不良,儀器可以自動檢測并判斷,并對用戶進行提示。
●超溫保護
儀器可以設(shè)定測試時測試樣品超過一定溫度時斷開測試電流,以對測試樣品進行保護,十分方便用戶對缺陷測試樣品進行失效分析,從而找到失效的根本原因。
過去雷射盲孔的檢測,是運用肉眼或3D測量儀器進行逐一檢測,這種方法非常消耗人力,辛苦且只能檢查到一小部分的孔,威太的雷射盲孔檢測儀可全l面檢測HDI及ABF板上的每一個孔,且健側(cè) 時間從數(shù)小時大幅度縮減至數(shù)十秒,不但可以測出不良盲孔,更可以精準(zhǔn)且詳細的統(tǒng)計報告,做為生產(chǎn)的監(jiān)控與改善。推薦威太(蘇州)智能科技有限公司CLT系列耐電流測試系統(tǒng)(HDI盲孔互聯(lián)可靠性測試),CLPT系列耐電流參數(shù)測試儀(HDI盲孔互聯(lián)可靠性測試)。
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