頭部集成了薄膜厚度測(cè)量所需功能

通過顯微光譜法測(cè)量高i精度絕i對(duì)反射率（多層膜厚度，光學(xué)常數(shù)）

1點(diǎn)1秒高速測(cè)量

顯微分光下廣范圍的光學(xué)系統(tǒng)（紫外至近紅外）

區(qū)域傳感器的安全機(jī)制

易于分析向?qū)?，初學(xué)者也能夠進(jìn)行光學(xué)常數(shù)分析

獨(dú)立測(cè)量頭對(duì)應(yīng)各種inline客制化需求

支持各種自定義

測(cè)量項(xiàng)目：

絕i對(duì)反射率測(cè)量

多層膜解析

光學(xué)常數(shù)分析（n：折射率，k：消光系數(shù)）

大塚電子（蘇州）有限公司主要銷售用于光學(xué)特性評(píng)價(jià)?檢查的裝置。其裝置用于在LED、 OLED、汽車前燈等的光源?照明產(chǎn)業(yè)以及液晶顯示器、有機(jī)EL顯示器等平板顯示產(chǎn)業(yè)以及其相 關(guān)材料的光學(xué)特性評(píng)價(jià)?檢查。歡迎新老客戶來電咨詢！

膜厚儀測(cè)試時(shí)有關(guān)輻射安全注意事項(xiàng)

幅射安全方面膜厚儀由于使用X射線管而產(chǎn)生輻射。測(cè)量頭的設(shè)計(jì)完全符合國(guó)際X射線安全要求：　　·測(cè)量頭控制臺(tái)上的一個(gè)鑰匙開關(guān)通過打開或關(guān)閉X射線管上的高壓決定X幅射的產(chǎn)生與否；　　·一個(gè)多級(jí)故障自動(dòng)保險(xiǎn)互鎖系統(tǒng)可控制X幅射的產(chǎn)生，從而有效保護(hù)操作者的安全；　　·如果測(cè)量門沒有完全關(guān)閉，X幅射就不會(huì)進(jìn)入測(cè)量室；　　·足夠的遮罩用來減小外部的幅射量。

影響膜厚儀測(cè)量的的客觀因素

耦合劑對(duì)膜厚儀的影響。耦合劑是用來排除探頭和被測(cè)物體之間的空氣，使超聲波能有效地穿入工件達(dá)到檢測(cè)目的。如果選擇種類或使用方法不當(dāng)，將造成誤差或耦合標(biāo)志閃爍，無法測(cè)量。因根據(jù)使用情況選擇合適的種類，當(dāng)使用在光滑材料表面時(shí)，可以使用低粘度的耦合劑；當(dāng)使用在粗糙表面、垂直表面及頂表面時(shí)，應(yīng)使用粘度高的耦合劑。