蔡司  ConTURA   從容應對各種挑戰(zhàn)--無論現在還是未來

ZEISS CMM CONTURA廣泛適用于各類型工件的測量，在大批量復雜零部件的生產過程中，快速獲得清晰的測量結果至關重要。關鍵時刻，測量結果更須確鑿無疑。來自蔡司的工業(yè)測量技術保證了高水平的質量控制。 ZEISS CMM CONTURA廣泛適用于各類型工件的測量，固定平臺橋式機體設計，融合先進的DLC鉆石涂層材質橫梁和Z軸結構，結合機器移動時高穩(wěn)定設計，兼之高精度掃描測頭系統(tǒng)及眾多技術優(yōu)勢，確保了系統(tǒng)的精度及動態(tài)性能；同時，高剛性結構提高了系統(tǒng)對于環(huán)境的抗干擾性能及長久的穩(wěn)定性。

蔡司三坐標測量機

觸發(fā)測頭

我們以測量一個圓為例，分別評價其直徑、位置度、圓度。眾所周知，確定一個圓所需的很少測點數目是3個，這樣就能擬合出一個理論圓，且該圓的圓度是0。在實際測量中，很少發(fā)生僅用3個點就確定被測圓的情況。即使是對于公差較大的非關鍵尺寸，都會至少采集4個點用以確定被測圓，以免受到干擾因素影響導致產生較大誤差。

接觸式測頭采點

非接觸式光學測頭直接利用光點的反射信號來獲取被測點的坐標，不存在半徑補償的環(huán)節(jié)，因此能夠完全余弦誤差產生的源頭。再者，在測量易變性零件時，雖然測力不大，但零件還是會在力的作用下造成一定變形(例如下圖中的薄葉片，測量頂部截面時，葉盆時葉片受到測力影響朝葉背方向彎曲，反之亦然)。雖然彎曲變形量不大，但是考慮到葉片本身極薄，其相對變形量還是非常可觀的，會對得出的輪廓度與位置度都造成非常大的影響。