什么是γ計(jì)數(shù)器？

一種專(zhuān)門(mén)探測(cè)電離輻射(α粒子、β粒子、γ射線和X射線)強(qiáng)度的記數(shù)儀器。由充氣的管或小室作探頭，當(dāng)向探頭施加的電壓達(dá)到一定范圍時(shí)，射線在管內(nèi)每電離產(chǎn)生一對(duì)離子，就能放大產(chǎn)生一個(gè)相同大小的電脈沖并被相連的電子裝置所記錄，由此測(cè)量得單位時(shí)間內(nèi)的射線數(shù)。

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γ計(jì)數(shù)器的性能

CAPRAC-t型擦拭測(cè)試計(jì)數(shù)儀/井型NaI咖瑪計(jì)數(shù)儀性能：

1、可打印測(cè)試報(bào)告和光子能量直方圖；

2、計(jì)算通道含有511Kev探測(cè)功能；

3、通過(guò)γ能譜鑒別同位素；

4、為不同區(qū)域（熱實(shí)驗(yàn)室、病房、等）接收和儲(chǔ)存單個(gè)的觸發(fā)水平；

5、增加的觸發(fā)水平計(jì)數(shù)用紅色墨打印。

6、6秒內(nèi)進(jìn)行擦拭測(cè)試。

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γ計(jì)數(shù)器的優(yōu)勢(shì)

與其他井型計(jì)數(shù)器相比，CAPRAC-t 擁有更快的速度、更高的精度和更齊全的內(nèi)置功能。該計(jì)數(shù)器可以在6秒鐘內(nèi)完成—次擦拭測(cè)試(1 nci)，而檢測(cè)極低活度的精度甚至與NaI 并型探測(cè)器相當(dāng)。

CAPRAC-t的設(shè)計(jì)和制造一直都極其可靠，且可以選擇Curie或 Becquerel作為單位。該設(shè)備擁有自動(dòng)背景差分和自我診斷程序，可使用*的信噪比完成系統(tǒng)測(cè)試。這包括鉛制外屏蔽層（1.3厘米厚）與可選的輔助屏蔽層。

γ計(jì)數(shù)器——功能介紹

CAPRAC-t還可以在不需要多樣品轉(zhuǎn)換器的部門(mén)中，作為單井伽瑪計(jì)數(shù)器使用。用戶(hù)定義的協(xié)議、觸發(fā)標(biāo)準(zhǔn)和計(jì)數(shù)時(shí)間都會(huì)有一個(gè)“快照”。256通道脈沖高度分析儀允許內(nèi)置伽瑪能譜。使用針對(duì)特定的放射性核素定義的轉(zhuǎn)換因子，CAPRAC一t能夠計(jì)算出各種結(jié)果( dpm、nCi、cps、dps 或 lkBq)。另外，CAPRAC-t還會(huì)顯死子能量直方圖。

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