老化測試原理

大多數(shù)半導體器件都有早期故障或故障的風險，這會縮短其產(chǎn)品的使用壽命。老化測試可用于在此關(guān)鍵的早期階段確定組件的可靠性，并確保電路進入其壽命的更有效的長期階段。老化系統(tǒng)可以使設(shè)備在升高的電壓和溫度下運行，這會在短時間內(nèi)觸發(fā)電壓和溫度故障機制。雖然預燒測試可能對篩選有缺陷的產(chǎn)品有益，但成本會根據(jù)設(shè)備的復雜性和所需的預燒時間而增加，并且由于性能條件的嚴重性，有時還會引入新的故障模式。

東莞元亞公司專業(yè)從事可靠性環(huán)境試驗設(shè)備、老化柜、老化房的研發(fā)、生產(chǎn)及銷售，擁有自己的研發(fā)團隊、生產(chǎn)基地、自動化工廠，更是國內(nèi)最早為客戶提供智能老化測試系統(tǒng)的廠家之一。

電源老化測試房發(fā)展的因素有哪些？

需求改變

 如今，客戶對于高溫老化房的需求不再僅僅是耐用，更需要試驗結(jié)果精準、個性化，現(xiàn)今廠家傳統(tǒng)的高溫老化房模式已經(jīng)不能滿足客戶需求。

老化柜是用預燒來提前移除半成品與成品的不合格產(chǎn)品，從而提高產(chǎn)品穩(wěn)定性和可靠性，是各生產(chǎn)企業(yè)提高產(chǎn)品質(zhì)量和競爭性的重要生產(chǎn)流程，近幾年一直廣受市場的親睞。老化柜已廣泛應用于計算機、服務(wù)器、MONITOR、電源供應器、電子交換機等電子通訊領(lǐng)域。

東莞元亞公司專業(yè)從事可靠性環(huán)境試驗設(shè)備、老化柜、老化房的研發(fā)、生產(chǎn)及銷售，擁有自己的研發(fā)團隊、生產(chǎn)基地、自動化工廠。