江蘇一六儀器  X射線熒光鍍層測(cè)厚儀

性能優(yōu)勢(shì)：

   下照式設(shè)計(jì)：可以快速方便地定位對(duì)焦樣品。

   無(wú)損變焦檢測(cè):可對(duì)各種異形凹槽進(jìn)行無(wú)損檢測(cè)，凹槽深度范圍0-90mm。

   微聚焦射線裝置：可檢測(cè)面積小于0.002mm2的樣品，可測(cè)試各微小的部件。

   jie shou 器：即使測(cè)試0.01mm2以下的樣品，幾秒鐘也能達(dá)到穩(wěn)定性。

   EFP先進(jìn)算法軟件：多層多元素，甚至有同種元素在不同層也難不倒EFP算法軟件。

統(tǒng)計(jì)計(jì)算功能平均值、標(biāo)準(zhǔn)偏差、相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差、max值、min值、數(shù)據(jù)變動(dòng)范圍、CP、數(shù)據(jù)編號(hào)、CPK、控制上限圖、控制下限圖數(shù)據(jù)分組、X-bar/R圖表直方圖數(shù)據(jù)庫(kù)存儲(chǔ)功能

-系統(tǒng)安全監(jiān)測(cè)功能Z軸保護(hù)傳感器樣品室門(mén)開(kāi)閉傳感器操作系統(tǒng)多級(jí)密碼操作系統(tǒng):操作員、分析員、工程師-任選軟件統(tǒng)計(jì)報(bào)告編輯器允許用戶自定義多媒體報(bào)告書(shū)液體樣品分析，如鍍液中的金屬元素含量材料鑒別和分類檢測(cè)材料和合金元素分析檢測(cè)。

   江蘇一六儀器有限公司  專業(yè)鍍層測(cè)厚檢測(cè)   歡迎來(lái)電詳詢！ 

  X射線熒光光譜分析可以非破壞性同時(shí)完成組分和厚度測(cè)試，厚度的測(cè)量范圍視材料和元素而定，通常在1nm-50um之間。X射線熒光光譜法分析鍍層與其常規(guī)定量分析法相比較，被測(cè)元素的特征X射線熒光強(qiáng)度不僅與鍍層中待測(cè)元素和基材的組成有關(guān)，而且與厚度直接相關(guān)。能量色散X射線熒光光譜分析相對(duì)其他分析方法，具有無(wú)需對(duì)樣品進(jìn)行特別的化學(xué)處理、快速，方便，測(cè)量成本低等明顯優(yōu)勢(shì)，特別適合用于各類相關(guān)企業(yè)作為過(guò)程控制和檢測(cè)使用。005umX射線熒光光譜測(cè)厚儀X射線的產(chǎn)生X射線波長(zhǎng)略大于0。是目前應(yīng)用為廣泛，具有速度快、無(wú)損化以及可實(shí)現(xiàn)多鍍層同時(shí)分析等特點(diǎn)。

江蘇一六儀器    X射線熒光光譜測(cè)厚儀

產(chǎn)品配置

X光金屬鍍層測(cè)厚儀標(biāo)準(zhǔn)配置為：X射線管，正比計(jì)數(shù)器﹨半導(dǎo)體探測(cè)器，高清攝像頭，高度激光，信號(hào)檢測(cè)電子電路。

性能指標(biāo)

X射線激發(fā)系統(tǒng) 垂直上照式X射線光學(xué)系統(tǒng)

空冷式微聚焦型X射線管，Be窗

標(biāo)準(zhǔn)靶材：Rh靶；任選靶材：W、Mo、Ag等

X射線管：管電壓50KV，管電流1mA

可測(cè)元素：CI～U

檢測(cè)器：正比計(jì)數(shù)管

樣品觀察：CCD攝像頭

測(cè)定軟件：薄膜FP法、檢量線法

Z軸程控移動(dòng)高度 20mm