2、外觀檢測(cè)：檢測(cè)生產(chǎn)線上產(chǎn)品有無(wú)質(zhì)量問(wèn)題，該環(huán)節(jié)也是取代人工非常多的環(huán)節(jié)。例如機(jī)器視覺(jué)涉及到的藥品領(lǐng)域，其主要檢測(cè)包括尺寸檢測(cè)、瓶身外觀缺陷檢測(cè)、瓶肩部缺陷檢測(cè)、瓶口檢測(cè)等。

3、高精度檢測(cè)：有些產(chǎn)品的精密度較高，達(dá)到0.01~0.02m甚至到u級(jí)，人眼無(wú)法檢測(cè)必須使用機(jī)器完成。

4、識(shí)別：就是利用機(jī)器視覺(jué)對(duì)圖像進(jìn)行處理、分析和理解，以識(shí)別各種不同模式的目標(biāo)和對(duì)象?？梢赃_(dá)到數(shù)據(jù)的追溯和采集，在汽車零部件、食品、藥品等應(yīng)用較多。

全自動(dòng)CCD光學(xué)檢測(cè)分選機(jī)設(shè)備優(yōu)勢(shì)：

1、非接觸測(cè)量，對(duì)于觀測(cè)者與被觀測(cè)者都不會(huì)產(chǎn)生任何損傷，從而提高系統(tǒng)的可靠性。

2、具有較寬的光譜響應(yīng)范圍，例如使用人眼看不見(jiàn)的紅外測(cè)量，擴(kuò)展了人眼的視覺(jué)范圍。

3、長(zhǎng)時(shí)間穩(wěn)定工作，人類難以長(zhǎng)時(shí)間對(duì)同一對(duì)象進(jìn)行觀察，而機(jī)器視覺(jué)則可以長(zhǎng)時(shí)間地作測(cè)量、分析和識(shí)別任務(wù)。

4、利用了機(jī)器視覺(jué)解決方案，可以節(jié)省大量勞動(dòng)力資源，為公司帶來(lái)可觀利益。

全自動(dòng)CCD光學(xué)檢測(cè)分選機(jī)適用范圍：

CCD視覺(jué)檢測(cè)，替代人工檢測(cè);效率更高，更精準(zhǔn)穩(wěn)定，工廠自動(dòng)化檢測(cè)之選。主要檢測(cè)項(xiàng)目有尺寸檢測(cè)，缺陷檢測(cè)等等。電子行業(yè)：半導(dǎo)體元件表面缺陷特征監(jiān)測(cè)、字符印刷殘缺檢測(cè)、芯片引腳封裝完整檢測(cè)、元件破損檢測(cè)、端子引腳尺寸檢測(cè)、編帶機(jī)元件極性識(shí)別、鍵盤(pán)字符檢測(cè)等； 制造行業(yè)：零件外形檢測(cè)、表面劃痕檢測(cè)、漏加工檢測(cè)、表面毛刺檢測(cè)等； 印刷行業(yè)：印刷質(zhì)量檢測(cè)、印刷字符檢測(cè)、條碼識(shí)別、色差檢測(cè)等； 汽車電子：面板印刷質(zhì)量檢測(cè)、字符檢測(cè)、SPI檢測(cè)系統(tǒng)、色差檢測(cè)等；  藥行業(yè)：封裝缺陷監(jiān)測(cè)、藥品封裝缺漏檢測(cè)，膠丸封裝質(zhì)量檢測(cè)等； 食品行業(yè): 外觀封裝檢測(cè)、食品封裝缺漏檢測(cè)、外觀和內(nèi)部質(zhì)量檢測(cè)、顏色質(zhì)量檢測(cè)、食品包裝定位等； 五金行業(yè)：微小金屬正反面判別、零件表面檢測(cè)、零件尺寸檢測(cè)等

射頻元件缺損注塑視覺(jué)檢測(cè)設(shè)備供應(yīng)

性能指標(biāo)                                                                                        

      ◇ 檢測(cè)內(nèi)容：元件正反與缺陷判斷；

      ◇ 視場(chǎng)大?。?mm*6mm

      ◇ 檢測(cè)精度：0.012 mm/Pixel

      ◇ 檢測(cè)速度：10個(gè) /秒

      ◇ 檢測(cè)結(jié)果：壞品圖片存入電腦，可任意查詢。

產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)                                                                                        

       ◇不良品漏檢率為0，避免客訴問(wèn)題。

       ◇節(jié)約人工成本，更有效，精準(zhǔn)，解決人眼產(chǎn)生的疲勞誤判。

       ◇可持續(xù)長(zhǎng)時(shí)間穩(wěn)定工作，故障率低。

       ◇非接觸測(cè)量，對(duì)被測(cè)物體不會(huì)產(chǎn)生損傷。

       ◇報(bào)表輸出，數(shù)據(jù)存儲(chǔ)，以便不良品分析。

適用范圍                                                                                        

         半導(dǎo)體元件表面缺陷特征監(jiān)測(cè)、字符印刷殘缺檢測(cè)、芯片引腳封裝完整檢測(cè)、元件破損檢測(cè)、端子引腳尺寸檢測(cè)、編帶機(jī)元件極性識(shí)別、鍵盤(pán)字符檢測(cè)等。