為實(shí)現(xiàn)圖像處理技術(shù)在沖壓件表面缺陷在線檢測(cè)中的應(yīng)用,開發(fā)了一套沖壓件表面缺陷實(shí)時(shí)在線快速檢測(cè)系統(tǒng)。使用基于多模板匹配算法獲取圖像中沖壓件的位置,建立感興趣區(qū)域;提出基于拉普拉斯-高斯(LoG)算子的實(shí)時(shí)濃淡補(bǔ)正算法實(shí)現(xiàn)沖壓件表面缺陷的增強(qiáng);使用大津法和形態(tài)學(xué)操作實(shí)現(xiàn)沖壓件表面缺陷位置的提取。系統(tǒng)使用MATLAB實(shí)現(xiàn)基于LoG算子的濾波算法;使用LabVIEW實(shí)現(xiàn)其余算法,并在其中調(diào)用MATLAB腳本節(jié)點(diǎn);使用多線程技術(shù)實(shí)現(xiàn)高效的檢測(cè)算法。經(jīng)實(shí)驗(yàn),系統(tǒng)能夠?qū)ιa(chǎn)線上每一個(gè)沖壓件進(jìn)行快速檢測(cè),并檢測(cè)出有缺陷的沖壓件,整個(gè)過程耗時(shí)在100ms以內(nèi),能夠滿足在線實(shí)時(shí)檢測(cè)需求。


半導(dǎo)體芯片廣泛應(yīng)用于各個(gè)領(lǐng)域、各類電子產(chǎn)品,已經(jīng)成為經(jīng)濟(jì)發(fā)展、國家信息安全的命脈,深刻影響著現(xiàn)代人類的生活。在半導(dǎo)體芯片封裝制造過程中,不可避免地在芯片表面產(chǎn)生各類缺陷,直接影響到芯片的運(yùn)行效能及壽命。傳統(tǒng)人工目視檢測(cè)法已經(jīng)難以適應(yīng)半導(dǎo)體芯片封裝制造的高速、高精度的檢測(cè)需求。利用機(jī)器視覺技術(shù)對(duì)芯片表面缺陷進(jìn)行檢測(cè),具有無接觸無損傷、檢測(cè)精度高、速度快、穩(wěn)定性高等優(yōu)點(diǎn)。盡管目前基于機(jī)器視覺的芯片缺陷檢測(cè)技術(shù)在芯片打印字符、引腳外觀尺寸位置等方面的研究已取得很好的進(jìn)展,但對(duì)于芯片表面的外觀缺陷檢測(cè)與分類研究尚處于起步階段。


另外，由于消除了檢驗(yàn)系統(tǒng)與被檢驗(yàn)元件之間的直接接觸，機(jī)器視覺還能夠防止元件損壞，也避免了機(jī)械部件磨損的維護(hù)時(shí)間和成本投入，通過減少制造過程中的人工參與，機(jī)器視覺還帶來了額外的安全性和操作優(yōu)勢(shì)。此外，機(jī)器視覺還能夠防止?jié)崈羰沂艿饺藶槲廴荆材茏尮と嗣馐芪ｋU(xiǎn)環(huán)境的威脅。邁迅威視覺科技是一家專注于機(jī)器視覺，視覺檢測(cè)設(shè)備，CCD光學(xué)檢測(cè)設(shè)備，機(jī)器視覺檢測(cè)，視覺方案定制，非標(biāo)自動(dòng)化設(shè)備的研發(fā)生產(chǎn)和銷售于一體的國家高新技術(shù)企業(yè)。