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發(fā)布時(shí)間:2021-01-02 02:09  
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現(xiàn)今Power MOSFET(金屬氧化物場(chǎng)效晶體管)及IGBT(絕緣柵型場(chǎng)效應(yīng)晶體管)已成為大功率元件的主流,在市場(chǎng)上居于主導(dǎo)地位。由于科技進(jìn)步,電力電子裝置對(duì)輕薄短小及之要求 ,帶動(dòng)MOSFET及IGBT的發(fā)展,尤其應(yīng)用于電氣設(shè)備、光電、航天、鐵路、電力轉(zhuǎn)換..2測(cè)試對(duì)象 IGBT、FRD、肖特基二極管等功率半導(dǎo)體模塊 2。..等領(lǐng)域,使半導(dǎo)體開發(fā)技術(shù)人員在市場(chǎng)需求下,對(duì)大功率元件的發(fā)展技術(shù),持續(xù)在突破。

主要參數(shù) 測(cè)試范圍 精度要求 測(cè)試條件
Vce
集射極電壓 150~3300V 150~500V±3%±1V;
500~1000V±2%±2V;
1000~3300V±1%±5V; 150~3300V
Ic
集射極電流 1~200A 1~200A±3%±1A; 1~200A
Vge
柵極電壓 -30V~30V -30~0V±1%±0.1V;
0~ 30V±1%±0.1V -30V~30V
Qg
柵極電荷 400~20000nC Ig: 0~50A±3%±0.1mA; 400~20000nC
td(on)、td(off)
開通/關(guān)斷延遲 10~1000ns 10~200±2%±2ns;200~1000±2%±5ns
tr、tf
上升/下降時(shí)間 10~1000ns 10~200±2%±2ns;200~1000±2%±5ns;
Eon、Eoff
開通/關(guān)斷能量 1~5000mJ 1~50mJ±2%±0.1mJ;
50~200mJ±2%±1mJ;
200~1000mJ±2%±2mJ;
1000~5000mJ±1%±5mJ;

表格12動(dòng)態(tài)參數(shù)測(cè)試部分組成
序號(hào) 組成部分 單位 數(shù)量
1 可調(diào)充電電源 套 1
2 直流電容器 個(gè) 8
3 動(dòng)態(tài)測(cè)試負(fù)載電感 套 1
4 安全工作區(qū)測(cè)試負(fù)載電感 套 1
5 補(bǔ)充充電回路限流電感L 個(gè) 1
6 短路保護(hù)放電回路 套 1
7 正常放電回路 套 1
8 高壓大功率開關(guān) 個(gè) 5
9 尖峰抑制電容 個(gè) 1
10 主回路正向?qū)ňчl管 個(gè) 2
11 動(dòng)態(tài)測(cè)試?yán)m(xù)流二極管 個(gè) 2
12 安全工作區(qū)測(cè)試?yán)m(xù)流二極管 個(gè) 3
13 被測(cè)器件旁路開關(guān) 個(gè) 1
14 工控機(jī)及操作系統(tǒng) 套 1
15 數(shù)據(jù)采集與處理單元 套 1
16 機(jī)柜及其面板 套 1
17 壓接夾具及其配套系統(tǒng) 套 1
18 加熱裝置 套 1
19 其他輔件 套 1

產(chǎn)品主要有電力半導(dǎo)體器件、組件、模塊(包括IGBT器件、新型SiC器件、功率晶閘管及功率整流管等)的檢測(cè)及可靠性設(shè)備,電氣自動(dòng)化設(shè)備,電冶、電化學(xué)裝置,電力半導(dǎo)體變流裝置及各種高、中、低頻感應(yīng)加熱電源、感應(yīng)加熱爐,晶閘管高壓閥組、GTO、IGBT、IGCT、MOSFET驅(qū)動(dòng)器、遠(yuǎn)距離光電轉(zhuǎn)換軟件控制系統(tǒng)、光電脈沖觸發(fā)板、IGBT的智能高壓驅(qū)動(dòng)板等。高壓探頭:滿足表格4-11動(dòng)態(tài)參數(shù)、短路電流、安全工作區(qū)測(cè)試需求。
