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雷達物位計公司在線咨詢 研控科技值得信賴

發(fā)布時間:2021-04-14 13:33  

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杭州雷達物位計,就找杭州研控科技有限公司

通用性強:可測量液位及料位,可滿足不同溫度、壓力、介質(zhì)的測量要求,并可應(yīng)用于腐蝕、沖擊等惡劣場合防掛料:獨特的電路設(shè)計和傳感器結(jié)構(gòu),使其測量可以不受傳感器掛料影響,無需定期清潔,避免誤測量。免維護:測量過程無可動部件,不存在機械部件損壞問題,無須維護??垢蓴_:接觸式測量,抗干擾能力強,可克服蒸汽、泡沫及攪拌對測量的影響。且高頻雷達物位計可以附加天線罩來改善因污物、水汽對儀表造成的測量影響,而低頻雷達物位計的天線較大,加置天線罩有一定難度,再加上其重量較高,在清理方面存在一定的困難程度。準確可靠:測量量多樣化,使測量更加準確,不受環(huán)境變化影響,穩(wěn)定性高,使用壽命長。

高頻雷達物位計的優(yōu)點有以下6點:

1.高頻雷達物位計的傳輸能量高、波束角小、精度高。

2.是測量散裝物料的選擇。由于雷達波的反射主要來自料位表面的漫反射,漫反射的強度與物料大小成正比,又與波長成反比,而大多數(shù)散裝物料的直徑遠遠小于50mm,因此高頻雷達物位計被廣泛用于測量固體物料。

3.高頻雷達物位計的天線短、方向性好,比低頻雷達物位計更加適用于小形儲罐的物位測量。且高頻雷達物位計可以附加天線罩來改善因污物、水汽對儀表造成的測量影響,而低頻雷達物位計的天線較大,加置天線罩有一定難度,再加上其重量較高,在清理方面存在一定的困難程度。大部分經(jīng)濟型雷達物位計都采用中等頻率的微波頻率,這樣其發(fā)射角較大。

4.由于高頻雷達物位計的方向性好,因此在很多惡劣工況中可通過簡單的隔離將其安裝于容器外部,進行隔離式測量。

5.無盲區(qū),;且不受真空、、蒸汽、惰性氣體、壓力和溫度變化等環(huán)境影響。

6.標定簡便、測量靈敏, 非常適用于高溫場合。


雷達物位計

杭州雷達物位計,就找杭州研控科技有限公司隨著物位計的使用范圍越來越廣,例如雷達物位計在帶有腐蝕性污染的環(huán)境下,依然可以準確的測量。但是實際使用過程中,也會因為各種各樣的內(nèi)外因素,造成測量出現(xiàn)誤差,從而影響終的結(jié)果。杭州雷達物位計,就找杭州研控科技有限公司探頭結(jié)疤和頻繁故障針對雷達物位計的這類情況,可以增加探針的安裝位置,但情況有時受限制的安裝條件下,應(yīng)該被用于測量水箱泵聯(lián)鎖方式的料位的值。當故障發(fā)生后,及時采取相應(yīng)的處理方法是正確的做法,下面介紹常見的故障及其緊急處理措施。

     1、天線結(jié)疤

  雷達物位計出現(xiàn)這類情況的原因其一是因為和高介電常數(shù)材料介電常數(shù)小的材料使用,會影響測量結(jié)果,而在干燥狀態(tài)下的測量沒有影響。用戶可以采取的措施是:堿性洗滌,即用酸性清洗液結(jié)疤,但不能在水平測量過程中進行清洗;用壓縮空氣吹掃,降低壓縮空氣冷卻法蘭和電子元件的溫度。微波信號的傳輸不受大氣的影響,所以它可以滿足工藝過程中揮發(fā)性氣體、高溫、高壓、蒸汽、真空及粉塵等惡劣環(huán)境的要求。

      2、泡沫的影響:

  出現(xiàn)泡沫也分為許多類型,干濕泡沫可以使雷達反射率可以回來,對測量無影響;反射中性泡沫會吸收和傳播的雷達。當介質(zhì)表面很厚、大,出現(xiàn)應(yīng)用限制和測量誤差,雷達物位計不具有優(yōu)勢,不能在這樣的條件下進行測量。





現(xiàn)場雷達物位計測量不準確,與實際物位有偏差。首先從雷達物位計的選型分析,認真對照被測介質(zhì)的介電常數(shù),看是否與所選雷達物位計相匹配;其次分析雷達物位計的安裝位置,一般情況下不建議雷達物位計安裝在罐(倉)的正中間部位,這樣會產(chǎn)生大量由倉壁對探測波的多重反射而形成的高能回波,從而使雷達物位計無法準確分析回波數(shù)據(jù),導(dǎo)致探測誤差較大,甚至無法實施探測;再次是進入菜單模式,檢查設(shè)置的各種基本參數(shù)是否合適,例如正向、反向的測量會直接影響雷達物位計的終測量值等;后在條件允許的情況下打開連接法蘭檢查測量元件,看喇叭口是否有凝結(jié)水滴、雷達天線是否有其他物質(zhì)附著或沉積,若有則用柔軟材料及時進行清理。雷達物位計是采用了一種微波脈沖的測量方法來進行探測,可以在工業(yè)的正常頻率中進行使用,因為其進行探測的時候波束的能量比較低,而且還可以安裝在各種金屬以及管道的內(nèi)部進行探測。