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風(fēng)力發(fā)電用IGBT測試儀加工量大從優(yōu) 華科軌道交通IGBT

發(fā)布時間:2021-09-24 02:42  

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華科智源IGBT電參數(shù)測試儀,可用于多種封裝形式的IGBT的測試,還可以測量大功率二極管、IGBT模塊、大功率IGBT、大功率雙極型晶體管等器件的VI特性測試,廣泛應(yīng)用于軌道交通,電動汽車,風(fēng)力發(fā)電,焊機行業(yè)的IGBT來料選型和失效分析。測試過程簡單,既可以在測試主機里設(shè)置參數(shù)直接測試,又可以通過軟件控制主機編程后進行自動測試。半導(dǎo)體元件有許多參數(shù)都很重要,有些參數(shù)如:放大倍率,觸發(fā)參數(shù),閂扣,保持參數(shù),崩潰電壓等,是提供給工程師在設(shè)計電路時的依據(jù),在檢測元件是否有老化的現(xiàn)象時,僅須測量導(dǎo)通參數(shù)及漏電流二項即可。

深圳市華科智源科技有限公司,是一家專業(yè)從事功率半導(dǎo)體測試系統(tǒng)自主研發(fā)制造與綜合測試分析服務(wù)的高新技術(shù)企業(yè),坐落于改革開放之都-中國深圳,核心業(yè)務(wù)為半導(dǎo)體功率器件智能檢測準備研制生產(chǎn),公司產(chǎn)品主要涉及SMT首件檢測儀,MOS管直流參數(shù)測試儀,MOS管動態(tài)參數(shù)測試儀,IGBT動態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng),IGBT靜態(tài)參數(shù)測試儀,在線式檢修用IGBT測試儀,變頻器檢修用IGBT測試儀,IGBT模塊測試儀,軌道交通檢修用IGBT測試儀,風(fēng)力發(fā)電檢修用IGBT測試儀。主要參數(shù) 測試范圍 精度要求 測試條件Vce集射極電壓 150~3300V 150~500V±3%±1V。




表格12動態(tài)參數(shù)測試部分組成

序號 組成部分 單位 數(shù)量

1 可調(diào)充電電源 套 1

2 直流電容器 個 8

3 動態(tài)測試負載電感 套 1

4 安全工作區(qū)測試負載電感 套 1

5 補充充電回路限流電感L 個 1

6 短路保護放電回路 套 1

7 正常放電回路 套 1

8 高壓大功率開關(guān) 個 5

9 尖峰抑制電容 個 1

10 主回路正向?qū)ňчl管 個 2

11 動態(tài)測試續(xù)流二極管 個 2

12 安全工作區(qū)測試續(xù)流二極管 個 3

13 被測器件旁路開關(guān) 個 1

14 工控機及操作系統(tǒng) 套 1

15 數(shù)據(jù)采集與處理單元 套 1

16 機柜及其面板 套 1

17 壓接夾具及其配套系統(tǒng) 套 1

18 加熱裝置 套 1

19 其他輔件 套 1


關(guān)斷時間測試參數(shù): 1、關(guān)斷時間toff:5~2000ns±3%±3ns 2、關(guān)斷延遲時間td(off):5~2000ns±3%±3ns 3、下降時間tf:5~2000ns±3%±3ns 4、關(guān)斷能量:0.2~1mJ±5%±0.01mJ 1~50mJ±5%±0.1mJ 50~100mJ±5%±1mJ 100~500mJ±5%±2mJ 5、關(guān)斷耗散功率Pon:10W~250kW 關(guān)斷時間測試條件: 1、集電極電壓Vce:50~100V±3%±1V 100~500V±3%±5V 500V~1000V±3%±10V 2、集電極電流Ic:50~100A±3%±1A; 100~500A±3%±2A; 500~1000A±3%±5A;


開通特性測試采用雙脈沖測試法。由計算機設(shè)定并控制輸出集電極電壓VCC值到被測器件的測試要求值(一般為被測器件額定電壓的1/2),設(shè)定±VGG到測試要求值,計算機控制接通開關(guān)S1,并控制輸出被測雙脈沖觸發(fā)信號,開通和關(guān)斷被測器件兩次,被測器件次開通后,集電極電流IC上升,直至被測器件飽和導(dǎo)通且IC達到測試規(guī)定值時,關(guān)斷被測器件(設(shè)為t1時刻),之后電感L經(jīng)二極管(Q1內(nèi)部二極管)續(xù)流,IC迅速減小,直至IC降為零時,第二次開通被測器件(設(shè)為t2時刻),此后電感L中的電流向IC轉(zhuǎn)移,IC迅速上升(若L足夠大,t1~t2間隔足夠短,L中的電流可視為恒流),直至被測器件再次達到飽和導(dǎo)通時(設(shè)為t3時刻),關(guān)斷被測器件。1開通:turnon(tdon,tr,di/dt,Ipeak,Eon,Pon)。記錄下被測器件IC、VCE以及VGE在t2~t3之間的導(dǎo)通波形,其中,VCE采樣到示波器的CH1通道,IC取樣到示波器的CH2通道,VGE采樣到示波器的CH3通道,示波器通過光通訊方式將測試波形傳輸給計算機,由計算機對測試波形進行分析與計算,后顯示測試結(jié)果。