FCT功能測(cè)試系統(tǒng)概述

功能測(cè)試涉及負(fù)載、機(jī)構(gòu)、模擬、數(shù)字、存儲(chǔ)器、RF和電源電路，通常要用不同的測(cè)試策略。測(cè)試包括大量實(shí)際重要功能通路及結(jié)構(gòu)驗(yàn)證（確定沒(méi)有硬件錯(cuò)誤），以彌補(bǔ)前面測(cè)試過(guò)程遺漏的部分。這需要將大量模擬/數(shù)字激勵(lì)不斷加到被測(cè)單元（UUT）上，同時(shí)監(jiān)測(cè)同樣多數(shù)量的模擬/數(shù)字響應(yīng)，并完全控制其執(zhí)行過(guò)程。測(cè)試設(shè)備包括：交流源,直流源,負(fù)載,功率計(jì),萬(wàn)用電表,示波器,信號(hào)發(fā)生器等各種設(shè)備,根據(jù)PCB測(cè)試功能要求不同進(jìn)行選配。

FCT測(cè)試系統(tǒng)接口

隨著自動(dòng)測(cè)試技術(shù)的發(fā)展，傳統(tǒng)的人工測(cè)試正在逐漸被自動(dòng)測(cè)試所取代。GPIB和PXI等標(biāo)準(zhǔn)總線的出現(xiàn)大大簡(jiǎn)化了自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的開發(fā)復(fù)雜度，構(gòu)建測(cè)試系統(tǒng)變成了組合各種儀器模塊。但是UUT的類型還是復(fù)雜多樣的，尤其信號(hào)類型也千變?nèi)f化；有機(jī)玻璃板為透明的，容易檢查問(wèn)題，但是鉆孔時(shí)容易斷鉆頭，一般應(yīng)用在鉆孔密度不高而且孔徑較大的情況。因此，設(shè)計(jì)一個(gè)良好的連接UUT和測(cè)試資源TR的測(cè)試接口ITA，是簡(jiǎn)化測(cè)試系統(tǒng)復(fù)雜度的關(guān)鍵。

FCT測(cè)試系統(tǒng)電路類型主要包括：

1.差分測(cè)量電流

在差分測(cè)量系統(tǒng)中，信號(hào)輸入端的兩極分別與兩個(gè)不同的模擬輸入(簡(jiǎn)稱模入)端相連接，并通過(guò)多路開關(guān)(MUX)分別連接到儀用放大(簡(jiǎn)稱儀放)的正負(fù)極上。一個(gè)8通道的差分測(cè)量系統(tǒng)如下圖所示，其中儀用放大器通過(guò)多路開關(guān)進(jìn)行通道轉(zhuǎn)換。標(biāo)有AIGND(模擬輸入地)的引腳為測(cè)量系統(tǒng)的地。測(cè)試包括大量實(shí)際重要功能通路及結(jié)構(gòu)驗(yàn)證（確定沒(méi)有硬件錯(cuò)誤），以彌補(bǔ)前面測(cè)試過(guò)程遺漏的部分。

2.參考地單端測(cè)量電流

在參考地單端RSE(Referenced Single Ended)測(cè)量系統(tǒng)中，被測(cè)量信號(hào)一端接模擬輸入通道，另一端接系統(tǒng)地(AIGND)。

3.無(wú)參考地單端測(cè)量電路

無(wú)參考地單端測(cè)量系統(tǒng)(NRSE)中一端接模擬輸入通道，另一端接公用參考端，但這個(gè)參考端電壓相對(duì)于測(cè)量系統(tǒng)的地來(lái)說(shuō)是不斷變化的。

fct功能測(cè)試治具原理

常規(guī)的治具設(shè)計(jì)，大多采用雙載板平衡桿和針板平衡桿。在測(cè)試過(guò)程中壓板下壓時(shí)，如果壓板、載板、針板固定不佳，容易產(chǎn)生晃動(dòng)，從而使UUT產(chǎn)生翹邊變形，進(jìn)行而導(dǎo)致測(cè)試針和測(cè)試點(diǎn)接觸不良或者位置偏移，使得測(cè)試針彎曲變形引起誤測(cè)甚至導(dǎo)致UUT裂損。上述情況的發(fā)生，尤其是在UUT的厚度發(fā)生較大變化時(shí)更容易產(chǎn)生。因此，設(shè)計(jì)一個(gè)良好的連接UUT和測(cè)試資源TR的測(cè)試接口ITA，是簡(jiǎn)化測(cè)試系統(tǒng)復(fù)雜度的關(guān)鍵。