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射線探傷（X射線、γ射線）：利用射線穿透物體來發(fā)現(xiàn)物體內(nèi)部缺陷的探傷方法 。磁粉探傷：是用來檢測鐵磁性材料表面和近表面缺陷的一種檢測方法。當(dāng)工件磁化時，若工件表面有缺陷存在，由于缺陷處的磁阻增大而產(chǎn)生漏磁，形成局部磁場，磁粉便在此處顯示缺陷的形狀和位置，從而判斷缺陷的存在。

無損探傷是在不損壞工件或原材料工作狀態(tài)的前提下，對被檢驗部件的表面和內(nèi)部質(zhì)量進(jìn)行檢查的一種測試手段。

常用無損探傷方法：特別波探傷：利用特別能透入金屬材料的深處，并由一截面進(jìn)入另一截面時，在界面邊緣發(fā)生反射的特點(diǎn)來檢查零件缺陷的一種方法，當(dāng)聲波束自零件表面由探頭通至金屬內(nèi)部，遇到缺陷與零件底面時就分別發(fā)生反射波來，在螢光屏上形成脈沖波形，根據(jù)這些脈沖波形來判斷缺陷位置和大小。

未熔合：固體金屬與填充金屬之間（焊道與母材之間），或者填充金屬之間（多道焊時的焊道之間或焊層之間）局部未全部熔化結(jié)合，或者在點(diǎn)焊（電阻焊）時母材與母材之間未全部熔合在一起，有時也常伴有夾渣存在。