?如何選擇三坐標(biāo)測量機(jī)的探針

探針是三坐標(biāo)測量機(jī)的一部分，主要用來觸測工件表面，使得測頭的機(jī)械裝置移位，產(chǎn)生信號觸發(fā)并采集一個(gè)測量數(shù)據(jù)。一般的探針都是由一個(gè)桿和紅寶石球組成。

上海三坐標(biāo)測量機(jī)的探針有幾個(gè)主要專業(yè)術(shù)語：

1：有效工作長度 (EWL)

2：桿直徑

3：總長（指的是從探針后固定面到測尖中心的長度）

4：測針直徑

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?哪些案例不適合用三坐標(biāo)檢測

哪些案例不適合用三坐標(biāo)檢測

三坐標(biāo)檢驗(yàn)適用范圍的原則，哪些案例不適合用三坐標(biāo)檢測：

1、調(diào)試調(diào)整中的粗調(diào)階段、用其他手段可以進(jìn)行直觀簡單粗調(diào)的。

2、使用其他手段在原理上的困難因素在三坐標(biāo)上同樣存在的。

3、零件形狀精度過低，由于三坐標(biāo)點(diǎn)測量原理（且不宜加大取點(diǎn)密度）會(huì)導(dǎo)致測量結(jié)果失去可信性的情況。

4、其他手段（含間接及近似手段）能夠達(dá)到檢測技術(shù)要求，且用通常手段檢驗(yàn)時(shí)間低于三坐標(biāo)檢驗(yàn)時(shí)間的5 倍的零件

三坐標(biāo)檢驗(yàn)適用范圍的原則，哪些案例不適合用三坐標(biāo)檢測：

1、調(diào)試調(diào)整中的粗調(diào)階段、用其他手段可以進(jìn)行直觀簡單粗調(diào)的。

2、使用其他手段在原理上的困難因素在三坐標(biāo)上同樣存在的。

3、零件形狀精度過低，由于三坐標(biāo)點(diǎn)測量原理（且不宜加大取點(diǎn)密度）會(huì)導(dǎo)致測量結(jié)果失去可信性的情況。

4、其他手段（含間接及近似手段）能夠達(dá)到檢測技術(shù)要求，且用通常手段檢驗(yàn)時(shí)間低于三坐標(biāo)檢驗(yàn)時(shí)間的5 倍的零件

怎樣選擇合適的三坐標(biāo)測頭

2.選用掃描測頭的場合

應(yīng)用于有形狀要求的零件和輪廓的測量：掃描方式測量的主要優(yōu)點(diǎn)在于能高速的采集數(shù)據(jù)，這些數(shù)據(jù)不僅可以用來確定零件的尺寸及位置，更重要的是能用眾多的點(diǎn)來精q圓活塞等)；也適用于你不能確信你所用的加工設(shè)備能加工出形狀足夠好的零件，而形狀誤差成為主要問題時(shí)的情況。測量：由于掃描測頭對離散點(diǎn)測量是勻速或恒測力采點(diǎn)，其測點(diǎn)精度可以更高。同時(shí)，掃描測頭可以直接判斷接觸點(diǎn)的法矢，對于要求嚴(yán)格定位、定向測量的場合，掃描測頭對離散點(diǎn)的測量也具有優(yōu)勢。對于未知曲面的掃描，亦即稱為數(shù)字化的場合下，掃描測頭顯示出了它的獨(dú)特優(yōu)勢：因?yàn)閿?shù)字化工作方式時(shí)，需要大量的點(diǎn)，觸發(fā)式測頭的采點(diǎn)方式顯得太慢；由于是未知曲面，測量機(jī)運(yùn)動(dòng)的控制方式亦不一樣，即在“探索方式”下工作；只要設(shè)計(jì)合理并注意維護(hù)，將三坐標(biāo)測量機(jī)放置在計(jì)量實(shí)驗(yàn)室或隔溫柜內(nèi)對提高三坐標(biāo)測量機(jī)的精度與可靠性的好處比不良影響要大。測量機(jī)根據(jù)已運(yùn)動(dòng)的軌跡來計(jì)算下一步運(yùn)動(dòng)的軌跡、計(jì)算采點(diǎn)密度等。

在可以應(yīng)用接觸式測頭的情況下，慎選非接觸式測頭；

在只測尺寸、位置要素的情況下盡量選接觸式觸發(fā)測頭；

考慮成本又能滿足要求的情況下，盡量選接觸式觸發(fā)測頭；

對形狀及輪廓精度要求較高的情況下選用掃描測頭；

掃描測頭應(yīng)當(dāng)可以對離散點(diǎn)進(jìn)行測量；考慮掃描測頭與觸發(fā)測頭的互換性(一般用通用測座來達(dá)到)；

易變形零件、精度不高零件、要求超大量數(shù)據(jù)零件的測量，可考慮采用非接觸式測頭；

要考慮軟件、附加硬件(如測頭控制器、電纜)的配套。