一六儀器 專業(yè)測厚儀 多道脈沖分析采集,先進EFP算法  X射線熒光鍍層測厚儀

應用于電子元器件,LED和照明,家用電器,通訊,汽車電子領域.EFP算法結合精準定位決了各種大小異形多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析的業(yè)界難題

能量色散X熒光光譜儀定義及原理

X射線熒光光譜儀是一種可以對多元素進行快速同時測定的儀器。試樣受X射線照射后，其中各元素原子的內殼層（K，L或M層）電子被激發(fā)逐出原子而引起電子躍遷，并發(fā)射出該元素的特征X射線熒光。波長色散型是由色散元件將不同波長的特征X射線衍射到不同的角度上，探測器需移動到想要的位置上來探測某一波長能量的射線。每一種元素都有其特定波長的特征X射線。能散型X射線熒光光譜儀（EDXRF）利用熒光X射線具有不同能量的特點，由探測器本身的能量分辨本領來分辨探測到的X射線。

江蘇一六儀器    X熒光光譜測厚儀  專業(yè)涂鍍層測厚

應用領域：廣泛應用于線路板、引線框架及電子元器件接插件檢測、鍍純金、K金、鉑、銀等各種飾品的膜層成分和厚度分析、手表、精密儀表制造行業(yè)、

釹鐵硼磁鐵上的Ni/Cu/Ni/FeNdB、汽車、五金、電子產品等緊固件的表面處理檢測、衛(wèi)浴產品、裝飾把手上的Cr/Ni/Cu/CuZn(ABS)、電鍍液的金屬陽離子檢測。

一六 熒光測厚儀 十年以上研發(fā)團隊 集研發(fā)生產銷售一體

元素分析范圍:氯(CI)- 鈾(U)   厚度分析范圍:各種元素及有機物

一次可同時分析:23層鍍層,24種元素   厚度檢出限:0.005um

江蘇一六儀器        X射線熒光測厚儀工作原理    

     當原子受到X射線光子(原級X射線)或其他微觀粒子的激發(fā)使原子內層電子電離而出現空位，原子內層電子重新配位，較外層的電子躍遷到內層電子空位，并同時出次級X射線光子，此即X射線熒光?？煽啃愿撸河捎跍y試過程無人為干擾因素，儀器自身分析精度、重復性與穩(wěn)定性很高。較外層電子躍遷到內層電子空位所釋放的能量等于兩電子能級的能量差，因此，X射線熒光的波長對不同元素是特征的，根據元素X射線熒光特征波長對元素做定性分析，根據元素釋放出來的熒光強度，來進行定量分析如元素厚度或含量分析。

   根據色散方式不同，X射線熒光分析儀相應分為X射線熒光光譜儀(波長色散)和X射線熒光能譜儀(能量色散)。X射線熒光光譜儀主要由激發(fā)、色散、探測、記錄及數據處理等單元組成。激發(fā)單元的作用是產生初級X射線。它由高壓發(fā)生器和X光管組成。也可以用于首飾類產品的鍍銀層測厚，PCB線路板的鍍銀厚度分析。后者功率較大，用水和油同時冷卻。色散單元的作用是分出想要波長的X射線。它由樣品室、狹縫、測角儀、分析晶體等部分組成。通過測角器以1∶2速度轉動分析晶體和探測器，可在不同的布拉格角位置上測得不同波長的X射線而作元素的定性分析。探測器的作用是將X射線光子能量轉化為電能，常用的有蓋格計數管、正比計數管、閃爍計數管、半導體探測器等。記錄單元由放大器、脈沖幅度分析器、顯示部分組成。通過定標器的脈沖分析信號可以直接輸入計算機，進行聯(lián)機處理而得到被測元素的含量。

江蘇一六儀器    X射線熒光光譜測厚儀

產品配置

X光金屬鍍層測厚儀標準配置為：X射線管，正比計數器﹨半導體探測器，高清攝像頭，高度激光，信號檢測電子電路。

性能指標

X射線激發(fā)系統(tǒng) 垂直上照式X射線光學系統(tǒng)

空冷式微聚焦型X射線管，Be窗

標準靶材：Rh靶；任選靶材：W、Mo、Ag等

X射線管：管電壓50KV，管電流1mA

可測元素：CI～U

檢測器：正比計數管

樣品觀察：CCD攝像頭

測定軟件：薄膜FP法、檢量線法

Z軸程控移動高度 20mm