斯派克火花光譜儀的精致設計使用日常維護和校工作量降到，儀器操作變得非常簡單。日常分析按一個鍵就可以完成。配合自動制樣設備，可以實現(xiàn)全自動大樣品量輸出。集成于SparkAnalyzer Vision

軟件包的硬件診斷系統(tǒng)，實時監(jiān)控和存檔儀器的運行狀態(tài)。對于儀器參數(shù)設置，數(shù)據(jù)管理，聯(lián)網(wǎng)傳輸，打印和材料牌號判定等功能，軟件設計了簡單直觀，易懂的操作界面。SQL數(shù)據(jù)庫格式是數(shù)據(jù)管理軟件的基礎。

在直讀光譜儀上進行分析的樣品均要求為塊狀固體。制備塊狀鋁箔樣品，途徑一是將樣品高溫加熱至熔融，然后冷卻使其凝結成塊狀；其二是通過機械外力作用把鋁箔壓制成結實的塊狀。前者對于分析一些易揮發(fā)性元素（As,Sn等）不利；此外，如果鋁箔樣品表面經(jīng)過鈍化等工藝處理，難于融結。測光部分是用光電法測量各元素的譜線強度，并指示、記錄下來，或是將其測光讀數(shù)換算成為元素質量分數(shù)表示出來。

用第二種方法制備樣品，并以激發(fā)時收集到的基體元素Al的光強來比較各種制樣方法的差異。結果表明，由機械壓樣機破碎樣壓制制備的鋁箔樣品可勝任在直讀光譜儀上進行快速分析，測定的結果與化學方法相一致，適合于日常檢驗樣品量繁重的工廠、實驗室、品質檢驗部門之樣品的制備及檢測。在企業(yè)鑄件主體生產體系，通常采用光電直讀光譜儀(OES)，X熒光光譜儀（XRF）這兩類儀器，實施所謂的儀器化分析改進。 次數(shù)用完API KEY 超過次數(shù)限制

斯派克的客戶在使用火花直讀光譜儀的過程中會遇到各種問題，現(xiàn)小編綜合概況如下，希望對大家有所幫助：

清理火花臺：激發(fā)時金屬材料在火花臺內產生黑色沉積物可導致電極與火花臺之間短路，所以火花臺應定期清理。方法如下：松開螺絲取下火花臺板及電極（包括墊片和電極上的玻璃套管），用吸塵器清理火花臺內部。完畢后將火花臺復位。

判斷激發(fā)斑點

濃縮（凝聚）放電—激發(fā)點中心處侵蝕均勻并有金屬光澤，此為正常放電表明儀器工作正常；

擴散放電—激發(fā)點呈白色，強度值低，樣品表面無侵蝕，為非正常放電，應檢查激發(fā)過程，包括亞氣、試樣等。 次數(shù)用完API KEY 超過次數(shù)限制

光譜儀維修必學的準則

“先簡后繁”，先從簡單的器件或部位下手，再進入復雜繁瑣的電路或線路。在維修電路時，根據(jù)儀器的電路原理，先從簡單的電路開始進行，如指示燈不亮、按鍵失靈或接觸不良、電壓電流表無指示或指示異常、電源插頭插座松動、保險絲是否熔斷、開關接觸是否可靠等。有N通道的光電直讀光譜儀使用的是表面涂有氟化鎂的透鏡表面沾有少量的水分就會破壞氟化鎂涂層，因此不能浸泡在存放于密閉性能不好的容器中或者已經(jīng)使用了較長時間只剩一點兒的清洗液中,也不能用綢布反復用力擦拭,否則會擦壞氟化鎂涂層。在此基礎上進一步維修復雜的而繁瑣主電路或線路，比如：變壓器、繼電器、接觸器、壓力傳感器、電磁閥、過壓（限壓）保護開關、流量傳感器等主控電路或線路。 次數(shù)用完API KEY 超過次數(shù)限制