一六 熒光測厚儀 十年以上研發(fā)團隊 集研發(fā)生產(chǎn)銷售一體

元素分析范圍:氯(CI)- 鈾(U)   厚度分析范圍:各種元素及有機物

一次可同時分析:23層鍍層,24種元素   厚度檢出限:0.005um

工業(yè)X射線鍍層厚度分析儀以其快速、無損、現(xiàn)場測量等優(yōu)點，已在冶金、建材、地質(zhì)、環(huán)保、商檢、考古、醫(yī)學等領域得到迅速推廣和應用。這些方法中前五種是有損檢測，測量手段繁瑣，速度慢，多適用于抽樣檢驗。近幾年來X射線熒光儀已在工業(yè)鍍層及涂層厚度測量中應用越來越廣泛。眾所周知，產(chǎn)品和金屬元件表面鍍層或防腐層厚度是與產(chǎn)品質(zhì)量與性能相關的重要指標。實驗表明使用同位素X射線熒光分析方法，能夠滿足工業(yè)鍍層和涂層厚度的分析要求，并且具有無損、在線、簡便快速、可實現(xiàn)自動控制等特點。

一六儀器 專業(yè)測厚儀 多道脈沖分析采集,先進EFP算法  X射線熒光鍍層測厚儀 

應用于電子元器件,LED和照明,家用電器,通訊,汽車電子領域.EFP算法結(jié)合精準定位決了各種大小異形多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析的業(yè)界難題

一次可同時分析:23層鍍層,24種元素 厚度檢出限:0.005umxiao測量面積0.002m㎡  深凹槽20mm以上

鍍層厚度分析儀使用注意事項

1．儀器供電電壓必須與儀器銘牌上的電壓一致。儀器必須使用三線插頭連到一個已接地的插座上。

2．鍍層厚度分析儀為精密儀器，建議配備的穩(wěn)壓電源。計算機和儀器應配備不間斷電源（UPS）。

3．鍍層厚度分析儀應特別注意與存在電磁的場合隔離開來。

4．儀器適合在10~40℃（50~104℉）的環(huán)境溫度下操作使用，在0~50℃（32~122℉）的溫度下存放。操作和存放的允許濕度范圍在0~65%之間（非冷凝）。在操作過程中，環(huán)境溫度和濕度應保持恒定。

5．儀器曝曬在陽光下時溫度極易超過50℃。所以請不要在這樣的環(huán)境下操作和存放儀器，以避免高溫對儀器造成損害。

6．為避免短路，嚴禁儀器與液體直接接觸。如果液體進入儀器，請立刻關閉儀器并在重新使用前請技術人員整體檢查儀器。

7．鍍層厚度分析儀不能用于酸性環(huán)境和場合。

8．不要弄臟和刮擦元素片或調(diào)校標準片，否則會造成讀數(shù)錯誤。

9．不要用任何機械或化學的方法清除元素片或調(diào)校標準片上的污物。如果必要的話，可以用一塊不起毛的布輕輕擦除臟物。

X熒光鍍層測厚儀標準片選擇與使用

1．一般要求

   使用可靠的參考標準塊校準儀器。后的測量不確定度直接取決于校準標準塊的測量不確定度和測量精度。

   參考標準塊應具有的已知單位面積質(zhì)量或厚度的均勻的覆蓋層，如果是合金，則應知其組成。參考標準塊的有效或限定表面的任何位置的覆蓋層不能超過規(guī)定值的±5%.只要用于相同的組成和同樣或已知密度的覆蓋層，規(guī)定以厚度為單位（而不是單位面積質(zhì)量）的標準塊，將是可靠的。二．磁感應測量原理鍍層厚度分析儀采用磁感應原理時，利用從測頭經(jīng)過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小，來測定覆層厚度。合金組成的測定，校準標準不需要相同，但應當已知。

金屬箔標準片。如果使用金屬箔貼在特殊基體表面作標準片，就必須注意確保接觸清潔，無皺折紐結(jié)。任何密度差異，除非測量允許，否則必須進行補償后再測。

2．標準塊的選擇

可用標準塊的單位面積厚度單位校準儀器，厚度值必須伴隨著覆蓋層材料的密度來校正。只要用于相同的組成和同樣或已知密度的覆蓋層，規(guī)定以厚度為單位（而不是單位面積質(zhì)量）的標準塊，將是可靠的。標準片應與被測試樣具有相同的覆蓋層和基體材料，但對試樣基材為合金成分的，有些儀器軟件允許標樣基材可與被測試樣基材不同，但前提是標準塊基體材料與試樣基材中的主元素相同。

3．標準塊的X射線發(fā)射（或吸收）特性及使用

   校正標準塊的覆蓋層應與被測覆蓋層具有相同的X射線發(fā)射（或吸收）特性。

如果厚度由X射線吸收方法或比率方法確定，則厚度標準塊的基體應與被測試樣的基體具有相同的X射線發(fā)射特性，通過比較被測試樣與校正參考標準塊的未鍍基體所選的特征輻射的強度，然后通過軟件達到對儀器的校正。

      江蘇一六儀器有限公司是一家專注于光譜分析儀器研發(fā)、生產(chǎn)、銷售的高新技術企業(yè)。公司位于上海和蘇州中間的昆山市城北高新區(qū)。我們專業(yè)的研發(fā)團隊具備十年以上的從業(yè)經(jīng)驗，經(jīng)與海內(nèi)外多名專家通力合作，研究開發(fā)出一系列能量色散X熒光光譜儀

      X熒光光譜儀原理及應用領域

一、簡單原理

      每個元素受高能輻射激發(fā)，即發(fā)射出具有一定特征的X射線譜線。通過軟件測試分析得出該譜線波長，即可知道是那種元素（定性）；通過分析測試其強度，得出該元素含量（定量）。X熒光光譜分析是一種非常常見的分析技術，

二、應用領域

     X熒光光譜儀作為一種常見的分析技術手段，在現(xiàn)實生活中有著非常廣泛的應用，主要可以分為以下四大類：

1.鍍層行業(yè)

     電鍍行業(yè)尤其以工業(yè)電鍍?yōu)橹鳎诠I(yè)生產(chǎn)中，通常我們?yōu)榱水a(chǎn)品尤其是金屬類能達到一定的性能會在其表面鍍上另一種金屬，這種金屬電鍍的膜厚往往是受管控，而X熒光光譜儀就是其best的管控者。

2.重金屬檢測

      我們的衣服帽子、喝水的杯子、小孩的玩具等等這些都跟我們有著緊密的關聯(lián)，但這其中也許就含有對我們?nèi)梭w是有害的重金屬，如Cr、Br、Cl、Pb、Hg、Cd、As等長期接觸會導致人體的病變甚至，為了使用安全，工業(yè)生產(chǎn)時需對產(chǎn)品重金屬檢測管控（RoHS檢測），而X熒光儀器就能對其進行監(jiān)測。EFP先進算法軟件：多層多元素，甚至有同種元素在不同層也難不倒EFP算法軟件。

3.元素成分分析

      元素成分分析應用也是更加廣泛，如巖石礦產(chǎn)的開發(fā)開采，鋼鐵、銅合金、鋁合金等可能因某一種元素的含量不同就會大大改變其物理性質(zhì)，為達到這種物理性質(zhì)就需要控制相關元素的含量，通過X熒光儀器的檢測就可以很好的生產(chǎn)出我們所需的物品，另外還可以利用成分分析原理對珠寶首飾進行真假鑒定。由于X光具有一定的波長，同事又有一定能量，因此，X射線熒光光譜儀有2種基本類型：波長色散型（WD）和能量色散性（ED）。

4.古董的檢測

     X熒光儀器在古董的檢測鑒定上也起著重要的作用，通過儀器檢測對產(chǎn)品進行定性分析可得其元素成分，從而對產(chǎn)品的年限進行一個判斷，得出結(jié)論。