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發(fā)布時(shí)間:2020-11-08 10:21  
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常用的無(wú)損檢測(cè)方法:射線照相檢驗(yàn)(RT)、超聲檢測(cè)(UT)、磁粉檢測(cè)(MT)和液體滲透檢測(cè)(PT) 四種。其他無(wú)損檢測(cè)方法:渦流檢測(cè)(ET)、聲發(fā)射檢測(cè)(AT)、熱像/紅外(TIR)、泄漏試驗(yàn)(LT)、交流場(chǎng)測(cè)量技術(shù)(ACFMT)、漏磁檢驗(yàn)(MFL)、遠(yuǎn)場(chǎng)測(cè)試檢測(cè)方法(RFT)、超聲波衍射時(shí)差法(TOFD)等。常用五種無(wú)損檢測(cè)手段射線照相檢驗(yàn)(RT)射線檢測(cè)的基本原理是:利用射線(X射線、γ射線和中子射線)在介質(zhì)中傳播時(shí)的衰減特性,當(dāng)將強(qiáng)度均勻的射線從被檢件的一面注入其中時(shí),由于缺陷與被檢件基體材料對(duì)射線的衰減特性不同,透過(guò)被檢件后的射線強(qiáng)度將會(huì)不均勻,用膠片照相、熒光屏直接觀測(cè)等方法在其對(duì)面檢測(cè)透過(guò)被檢件后的射線強(qiáng)度,即可判斷被檢件表面或內(nèi)部是否存在缺陷(異質(zhì)點(diǎn))。
通訊TCP、串口、通用IO、Modbus、HID、鍵盤(pán)響應(yīng)控制邏輯運(yùn)算、scriptor、變量賦值、變量讀寫(xiě)、、交互對(duì)話框、算法擴(kuò)展、CSV記錄、Overlay、數(shù)據(jù)庫(kù)操作、點(diǎn)數(shù)組轉(zhuǎn)換、退出程序
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SciFocus銳度檢測(cè)
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