一六 熒光測厚儀 十年以上研發(fā)團隊 集研發(fā)生產銷售一體

元素分析范圍:氯(CI)- 鈾(U)   厚度分析范圍:各種元素及有機物

一次可同時分析:23層鍍層,24種元素 厚度檢出限:0.005um

X熒光測厚儀相關注意事項：

　　儀器供電電壓必須與儀器品牌上的電壓一致.儀器三線插頭必須連接到已接地的插座上。

　　本儀器為精密儀器,配備的穩(wěn)壓電源.計算機應配備不間斷電源(UPS)。

　　儀器應特別注意與存在電磁的場合隔離開來。

　　為避免短路,嚴禁儀器與液體直接接觸,如果液體進入儀器,請立即關閉儀器。

　　本儀器不能用于酸性環(huán)境和場合。

　　不要弄臟和刮擦調校標準片,否則會造成讀數錯誤。

　　不要用任何機械或化學的方法清除調校片上的臟物,可以用不起毛的布輕輕擦拭。

      江蘇一六儀器有限公司是一家專注于光譜分析儀器研發(fā)、生產、銷售的高新技術企業(yè)。公司位于上海和蘇州中間的昆山市城北高新區(qū)。我們專業(yè)的研發(fā)團隊具備十年以上的從業(yè)經驗，經與海內外多名專家通力合作，研究開發(fā)出一系列能量色散X熒光光譜儀。

測厚范圍可測定厚度范圍:取決于用戶的具體應用。將列表可測定的厚度范圍-基本分析功能無標樣檢量線測厚，可采用一點或多點標準樣品自動進行基本參數方法校正。1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求一次可同時分析多達五層鍍層度適應范圍為15℃至30℃鍍層厚度一般在50μm以內（每種材料有所不同）分析含量一般為2ppm到99。根據客戶本身應用提供必要的校正用標準樣品。樣品種類:鍍層、涂層、薄膜、液體(鍍液中的元素含量)可檢測元素范圍:Ti22–U92可同時測定5層/15種元素/共存元素校正組成分析時，可同時測定15種元素多達4個樣品的光譜同時顯示和比較元素光譜定性分析-調整和校正功能系統(tǒng)自動調整和校正功能:校正X射線管、探測器和電子線路的變化對分析結果的影響，自動消除系統(tǒng)漂移譜峰計數時，峰漂移自動校正功能譜峰死時間自動校正功能譜峰脈沖堆積自動剔除功能標準樣品和實測樣品間，密度校正功能譜峰重疊剝離和峰形擬合計算-測量自動化功能(要求XY程控機構)鼠標控制測量模式:'PointandShoot'多點自動測量模式:隨機模式、線性模式、梯度模式、掃描模式、和重復測量模式測量位置預覽功能激光對焦和自動對焦功能-樣品臺程控功能(要求XY程控機構)設定測量點oneorTwoDatumn(reference)Pointsoneachfile測量位置預覽

江蘇一六儀器 XTU系列 XTU-BL X熒光光譜儀

儀器規(guī)格：

   外形尺寸 ：550 mm x 660mm x 470 mm （長x寬x高）

   樣品倉尺寸 ：500mm×660 mm ×215mm （長x寬x高）

   儀器重量 ：55kg

   供電電源 ：交流220±5V

   功率 ：330W

   環(huán)境溫度：15℃-30℃

   環(huán)境相對濕度：<70%

EDX是借助于分析試樣發(fā)出的元素特征X射線波長和強度實現的， 根據不同元素特征X射線波長的不同來測定試樣所含的元素。通過對比不同元素譜線的強度可以測定試樣中元素的含量。通常EDX結合電子顯微鏡使用，可以對樣品進行微區(qū)成分分析。

常用的EDX探測器是硅滲鋰探測器。當特征X射線光子進入硅滲鋰探測器后便將硅原子電離，產生若干電子-空穴對，其數量與光子的能量成正比。所以，表示薄膜的形狀，一定要用宏觀方法，即采用長、寬、厚的方法。利用偏壓收集這些電子空穴對，經過一系列轉換器以后變成電壓脈沖供給多脈沖高度分析器，并計數能譜中每個能帶的脈沖數。

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選擇Elite（一六儀器）X射線熒光鍍層測厚儀理由：

   根據IPC規(guī)程，必須使用整塊的標準片來校正儀器，對于多鍍層的測量，目前大多數客戶購買的測厚儀采用的是多種箔片疊加測量校正，比如測量PCB板上的Au/Pd/Ni/Cu,因為測量點很小，測量距離的變化對測量結果有較大影響，如果使用Au，Pd，Ni三種箔片疊加校正，校正的時候箔片之間是有空氣，并且Pb元素與空氣的頻譜重疊，以上會對測量結果產生較大影響，Elite（一六儀器）測厚儀有電鍍好的整塊的Au/Pd/Ni/base標準片，不需要幾種箔片疊加校正，可以確保鍍層測量的準確性。波長色散型X射線熒光光譜儀的前面部分和能量色散型X射線熒光光譜儀是一樣的，X光管激發(fā)樣品，檢測器測量來自樣品的射線，但波長色散型X射線熒光光譜儀的檢測器和能量色散型X射線熒光光譜儀的檢測器不同。

2、采用微聚焦X射線管，油槽式設計，工作時采用油冷，長期使用時壽命更長。微聚焦X射線管配合比例接收能實現高計數率，可以進行測量。

3、Elite（一六儀器）WinFTM專用軟件，具有強大且界面友好、中英文切換，多可同時測量23層鍍層，24種元素，測量數據可直接以WORD格式或EXCEL格式輸出、打印、保存。準直器任意選擇或者任意切換最近測距光斑擴散度：9%測量距離：具有距離補償功能，可改變測量距離，能測量凹凸異型樣品，變焦距離0-30mm(特殊要求可以升級到90mm)樣品觀察：1/2。采用基本參數法（FP），有內置頻譜庫，無論是鍍層系統(tǒng)還是固體和液體樣品，都能在沒有標準片的情況下進行準確的分析和測量。

4、 Elite（一六儀器）針對PCB（印制電路板）線路板上的鍍層厚度及分析而設計的X射線熒光測厚儀（XDLM-PCB200/PCB210系列）具有以下特點：1）工作臺有手動和程序控制供客戶選擇，2）采用開槽式設計和配置加長型樣品平臺，用于檢測大尺寸的線路板。005um江蘇一六儀器X射線熒光光譜測厚儀在電鍍行業(yè)的應用由于每一種元素的原子能級結構都是特定的，它被激發(fā)后躍遷時放出的X射線的能量也是特定的，稱之為特征X射線。