γ計(jì)數(shù)器的原理

γ計(jì)數(shù)器，是一種用于探測(cè)電離輻射的粒子探測(cè)器，通常用于探測(cè)α粒子和β粒子，也有些型號(hào)蓋革計(jì)數(shù)器可以探測(cè)γ射線及X射線。

γ計(jì)數(shù)器是根據(jù)射線對(duì)氣體的電離性質(zhì)設(shè)計(jì)成的。其探測(cè)器（稱“蓋革管”）的通常結(jié)構(gòu)是在一根兩端用絕緣物質(zhì)密閉的金屬管內(nèi)充入稀薄氣體（通常是摻加了鹵素的稀有氣體，如氦等），在沿管的軸線上安裝有一根金屬絲電極，并在金屬管壁和金屬絲電極之間加上略低于管內(nèi)氣體擊穿電壓的電壓。

γ計(jì)數(shù)器原理介紹

在通常狀態(tài)下，管內(nèi)氣體不放電；而當(dāng)有高速粒子射入管內(nèi)時(shí)，粒子的能量使管內(nèi)氣體電離導(dǎo)電，在絲極與管壁之間產(chǎn)生迅速的氣體放電現(xiàn)象，從而輸出一個(gè)脈沖電流信號(hào)。通過(guò)適當(dāng)?shù)剡x擇加在絲極與管壁之間的電壓，就可以對(duì)被探測(cè)粒子低的能量，從而對(duì)其種類加以甄選。蓋革計(jì)數(shù)器也可以用于探測(cè)γ射線。

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γ計(jì)數(shù)器的優(yōu)勢(shì)

與其他井型計(jì)數(shù)器相比，CAPRAC-t 擁有更快的速度、更高的精度和更齊全的內(nèi)置功能。該計(jì)數(shù)器可以在6秒鐘內(nèi)完成—次擦拭測(cè)試(1 nci)，而檢測(cè)極低活度的精度甚至與NaI 并型探測(cè)器相當(dāng)。

CAPRAC-t的設(shè)計(jì)和制造一直都極其可靠，且可以選擇Curie或 Becquerel作為單位。該設(shè)備擁有自動(dòng)背景差分和自我診斷程序，可使用*的信噪比完成系統(tǒng)測(cè)試。這包括鉛制外屏蔽層（1.3厘米厚）與可選的輔助屏蔽層。