ICP光譜儀如何保養(yǎng)？

(1)ICP光譜儀使用環(huán)境，與其它大型精密儀器—樣，ICP光譜儀的運(yùn)行也需要在一定的環(huán)境下進(jìn)行，達(dá)不到這些條件，不僅是儀器的使用效果不好，而且還會改變儀器的檢測性能，甚至造成儀器損壞，影響使用的壽命。

(2)ICP光譜儀的供電，保證儀器運(yùn)行時，不會因為線路的電壓降過大，造成儀器損壞，影響儀器壽命。

ICP光源觀察方式

水平觀察：又稱為軸向觀察或端視觀測，是采用水平放置的ICP光譜儀炬管，“火焰”氣流方向與采光光路方向呈水平重合;可使整個火焰?zhèn)€個部分的光都全部通過狹縫。水平觀察方式的優(yōu)點是：由于整個“火焰”各個部分的光都可以被采集導(dǎo)致靈敏度高，對簡單樣品有較好的檢出限;其缺點：基體效應(yīng)和電離干擾大，線性范圍小，炬管溶液積炭和積鹽而沾污，需要及時清洗和維護(hù)，RF功率設(shè)置不能一般不超過1350W;使用于光譜儀水質(zhì)分析中。光譜儀一般都會有一套完整的體系，有許多輔助設(shè)備，當(dāng)系統(tǒng)出現(xiàn)故障時，應(yīng)先檢查電腦、穩(wěn)壓器等輔助設(shè)施，再看儀器主機(jī)運(yùn)行情況。

雙向觀測：雙向觀測是在水平觀測ICP光源的基礎(chǔ)，增加一套側(cè)向采光光路，實現(xiàn)垂直/水平雙向觀測，即在炬管垂直觀測的方向依次放置3塊反射鏡，當(dāng)要使用垂直觀測的時候，就通過3塊反射鏡把炬管垂直方向上的光反射到原光路中，并通過旋轉(zhuǎn)原光路的塊反射鏡，使垂直方向來的光與原水平方向來的光在整個光路中重合。該觀測方式的切換反射鏡由計算機(jī)控制，該方式融合了軸向、徑向的特點，具有一定的靈活性，增強(qiáng)了測定復(fù)雜樣品的能力。ICP光譜儀光譜分析今天ICP光譜儀小編跟您講講光譜分析，由于每種原子都有自己的特征譜線，因此可以根據(jù)光譜來鑒別物質(zhì)和確定它的化學(xué)組成。改觀測方式可實現(xiàn)以下3中方式的測量：

①全部元素譜線水平測量。

②全部元素譜線垂直測量。

③部分元素譜線水平測量，部分元素譜線垂直測量。

雙向觀測能有效解決水平觀測中存在的電子干擾，進(jìn)一步擴(kuò)寬線性范圍。但是該觀測方式需要不斷地切換反射鏡，可 能導(dǎo)致儀器的穩(wěn)定性變差。由于徑向觀測的需要，炬管側(cè)面必須開口，導(dǎo)致炬管的壽命大大降低，同時也改變了炬焰的形狀。炬管開口處必須嚴(yán)格與光路對準(zhǔn)，要不然炬管壁容易積累鹽，會使檢測結(jié)果嚴(yán)重錯誤;同時如果在開口出現(xiàn)積鹽同樣也會導(dǎo)致儀器檢測結(jié)構(gòu)存在嚴(yán)重的錯誤，必須注意清洗。但是該觀測方式需要不斷地切換反射鏡，可能導(dǎo)致儀器的穩(wěn)定性變差。而且增加了曝光次數(shù)，降低了分析速度，增加了分析消耗。

ICP光譜儀的使用和維護(hù)

儀器一定要有良好的使用環(huán)境

等離子體光譜與其它大型精密儀器一樣，需要在一定的環(huán)境下運(yùn)行，失去這些條件，不僅儀器的使用效果不好，而且改變儀器的檢測性能，甚至造成損壞，縮短壽命。根據(jù)光學(xué)儀器的特點，ICP光譜儀對環(huán)境溫度和濕度有一定要求。如果溫度變化太大，光學(xué)元件受溫度變化的影響就會產(chǎn)生譜線漂移，造成測定數(shù)據(jù)不穩(wěn)定，一般室溫要求維持在70～75攝氏度間的一個固定溫度，溫度變化應(yīng)小于±1攝氏度。而環(huán)境濕度過大，光學(xué)元件，特別是光柵容易受潮損壞或性能降低。電子系統(tǒng)，尤其是印刷電路板及高壓電源上的元件容易受潮燒壞。濕度對高頻發(fā)生器的影響也十分重要，濕度過大，輕則等離子體不容易點燃，重則高壓電源及高壓電路放毀元件，如功率管隔直陶瓷電容擊穿，輸出電路阻抗匹配、網(wǎng)絡(luò)中的可變電容放電等，以至損壞高頻發(fā)生器。一般室內(nèi)濕度應(yīng)小于百分之70，控制在百分之45～60之間，應(yīng)有空氣凈化裝置。當(dāng)光譜儀發(fā)生故障時，尤其是發(fā)生比較復(fù)雜的綜合性故障，解決這種故障應(yīng)該先從比較容易解決的故障入手，如檢修儀器的電路板時，先檢查電阻、電容、二極管等，再檢查集成電路、大功率模塊、微處理器IC等。過去由于基建施工，我們的環(huán)境條件很差，甚至儀器室多次被水淹，受潮及室溫變化過大，儀器不是定位困難就是經(jīng)常發(fā)生故障。搬到新的儀器室后條件改善了，儀器運(yùn)行就正常多了。