江蘇一六儀器    專業(yè)測(cè)厚儀   多道脈沖分析采集    先進(jìn)EFP算法

膜厚儀又名膜厚測(cè)試儀分為手持式和臺(tái)式二種，手持式又有磁感應(yīng)鍍層測(cè)厚儀，電渦流鍍層測(cè)厚儀，熒光X射線儀鍍層測(cè)厚儀。

手持式的磁感應(yīng)原理是，利用從測(cè)頭經(jīng)過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小，來測(cè)定覆層厚度。也可以測(cè)定與之對(duì)應(yīng)的磁阻的大小，來表示其覆層厚度。

臺(tái)式的熒光X射線膜厚儀，是通過一次X射線穿透金屬元素樣品時(shí)·產(chǎn)生低能量的光子，俗稱為二次熒光，,在通過計(jì)算二次熒光的能量來計(jì)算厚度值。

江蘇一六儀器   X熒光光譜測(cè)厚儀

應(yīng)用領(lǐng)域：

線路板、引線框架及電子元器件接插件檢測(cè)

鍍純金、K金、鉑、銀等各種飾品的膜層成分和厚度分析

手表、精密儀表制造行業(yè)

釹鐵硼磁鐵上的Ni/Cu/Ni/FeAIB

汽車、五金、電子產(chǎn)品等緊固件的表面處理檢測(cè)

江蘇一六儀器以“竭盡全力創(chuàng)造客戶認(rèn)可的有價(jià)值的產(chǎn)品和服務(wù)”為使命，持續(xù)進(jìn)行產(chǎn)品與服務(wù)創(chuàng)新。

繼續(xù)秉承“專注測(cè)厚儀，一六儀器，一 liu 品質(zhì)”的原則，堅(jiān)持自主創(chuàng)新、合作共贏。

一家值得信賴、受人尊敬的公司。

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X射線測(cè)厚儀測(cè)量精度的影響因素有哪些

    我們要保證生產(chǎn)的產(chǎn)品厚度上是否可以，那么X射線測(cè)厚儀測(cè)量的精度是否準(zhǔn)確就非常重要了，如果X射線測(cè)厚儀的測(cè)量精度發(fā)生了偏差，那么生產(chǎn)出來的產(chǎn)品就不會(huì)！2、關(guān)機(jī):掃描儀：如遇突發(fā)事件，應(yīng)立即按下急停開關(guān)，停止掃描。由此可知測(cè)厚儀的測(cè)量精度有多么重要，因此，這次在這與大家分享下X射線測(cè)厚儀測(cè)量精度的影響因素有哪些:

首先,是X射線的高壓控制箱會(huì)對(duì)測(cè)量的精度造成一定的影響；

第二,在X射線測(cè)厚儀通過施加高壓釋放出X射線時(shí),X射線途經(jīng)環(huán)境的溫度濕度也會(huì)影響X射線對(duì)被測(cè)物體的測(cè)量；

第三,在測(cè)量過程中,被測(cè)物體上,可能會(huì)有附著物,也會(huì)影響測(cè)量的精度；

第四,在生產(chǎn)過程中,補(bǔ)償值也會(huì)對(duì)X射線測(cè)厚儀的測(cè)量精度造成影響。