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發(fā)布時(shí)間:2020-11-30 07:03  
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測(cè)量示例:
SiO 2 SiN [FE-0002]的膜厚測(cè)量
半導(dǎo)體晶體管通過(guò)控制電流的導(dǎo)通狀態(tài)來(lái)發(fā)送信號(hào),但是為了防止電流泄漏和另一個(gè)晶體管的電流流過(guò)任意路徑,有必要隔離晶體管,埋入絕緣膜。 SiO 2(二氧化硅)或SiN(氮化硅)可用于絕緣膜。 SiO 2用作絕緣膜,而SiN用作具有比SiO 2更高的介電常數(shù)的絕緣膜,或是作為通過(guò)CMP去除SiO 2的不必要的阻擋層。之后SiN也被去除。 為了絕緣膜的性能和精準(zhǔn)的工藝控制,有必要測(cè)量這些膜厚度。


考慮到表面粗糙度測(cè)量的膜厚值[FE-0007]
當(dāng)樣品表面存在粗糙度(粗糙度)時(shí),將表面粗糙度和空氣(air)及膜厚材料以1:1的比例混合,模擬為“粗糙層”,可以分析粗糙度和膜厚度。此處示例了測(cè)量表面粗糙度為幾nm的SiN(氮化硅)的情況。
膜厚儀在電氣安全方面按照要求正常使用儀器,就不會(huì)對(duì)人造成任何危險(xiǎn)或損害。膜厚儀包含傳導(dǎo)線電壓的元件,它是按照準(zhǔn)則的安全條款設(shè)計(jì)的。必須遵循儀器安全條款和準(zhǔn)則有關(guān)儀器操作的規(guī)定! 電源連接為避免損壞儀器,供電電壓必須與膜厚儀銘牌上的電壓一致。儀器必須使用三相插頭連到一個(gè)已接地的插座上。