國家檢定規(guī)程的制定發(fā)布是落后于國內(nèi)外精密儀器制造發(fā)展速度的， 很多帶有計(jì)量特性的分析測量設(shè)備還沒相應(yīng)的檢定規(guī)程， 在實(shí)際的使用過程中， 需要使用者對測量設(shè)備是否滿足預(yù)期用途作出判斷。計(jì)量確認(rèn)就是這樣一個(gè)過程。在實(shí)驗(yàn)室認(rèn)可活動中， 檢定和校準(zhǔn)是比較常見的兩個(gè)詞匯。檢定和校準(zhǔn)是量值溯源的手段， 是檢測結(jié)果準(zhǔn)確性和可靠性的重要保障， 而“ 計(jì)量確認(rèn)” 對大部分通過認(rèn)可的檢測實(shí)驗(yàn)室還是一個(gè)比較陌生的詞匯。

儀器檢測下限，可檢測儀器的訊號，通常用信噪比來表示，當(dāng)信號與噪聲之比大于等于3時(shí)，相當(dāng)于信號強(qiáng)度的試樣濃度，定義為儀器檢測下限。方法檢測下限，即，某方法可檢測的濃度。通常用低濃度曲線外推法可求的方法檢測下限。美國EPASW-846中規(guī)定方法檢出限：MDL=3.143δ(δ重復(fù)測定7次)。樣品檢測下限即，相對于空白可檢測的樣品含量。樣品檢測下限定義為：其信號等于測量空白溶液的信號的標(biāo)準(zhǔn)偏差的3倍時(shí)的濃度。

定量限(Limit ofQuantitation, LOQ)

被測組分的濃度能產(chǎn)生比空白足夠大的信號，這個(gè)信號能夠被良好實(shí)驗(yàn)室在常規(guī)操作條件下以的置信水平定量檢出，這個(gè)濃度就是定量限。一般以產(chǎn)生10倍試劑空白的標(biāo)準(zhǔn)偏差的信號所對應(yīng)的濃度作為定量限。LOQ隨介質(zhì)、分析方法和分析對象的不同而不同。

儀器的測定下限和方法的測定下限，檢出限只能粗略的表征體系性能，僅是一種定性的判斷依據(jù)，通常不能用于真實(shí)分析。測定下限則是痕量或微量分析定量測定的特征指標(biāo)。