大塚電子（蘇州）有限公司主要銷售用于光學特性評價?檢查的裝置。其裝置用于在LED、 OLED、汽車前燈等的光源?照明產業(yè)以及液晶顯示器、有機EL顯示器等平板顯示產業(yè)以及其相 關材料的光學特性評價?檢查。歡迎新老客戶來電咨詢！

使用顯微光譜法在微小區(qū)域內通過絕i對反射率進行測量，可進行高i精度膜厚度/光學常數(shù)分析。

可通過非破壞性和非接觸方式測量涂膜的厚度，例如各種膜、晶片、光學材料和多層膜。 測量時間上，能達到1秒/點的高速測量，并且搭載了即使是初次使用的用戶，也可容易出分析光學常數(shù)的軟件

　膜厚儀廠家解釋凡其厚度與入射光波長相比擬的并能引起干涉現(xiàn)象(相干光程小于相干長度)的膜層為薄膜，其厚度遠大于入射光波波長的膜層稱之為厚膜。如今，微電子薄膜，光學薄膜，抗1氧化薄膜，巨磁電阻薄膜，高溫超導薄膜等在工業(yè)生產和人類生活中的不斷應用，在工業(yè)生產的薄膜，其厚度是一個非常重要的參數(shù)，直接關系到該薄膜材料能否正常工作。

膜厚測試儀的預熱 　　關機超過3個小時開機必做。點擊“波數(shù)”，將波譜校準片放入儀器，將Ag部分移至十字線中間，鐳射聚焦，設定測量時間為6S重復測量次數(shù)為30~50次,點擊Go鍵，等待自動連續(xù)測量完成。