蔡司  ConTURA   從容應(yīng)對各種挑戰(zhàn)--無論現(xiàn)在還是未來

ZEISS CMM CONTURA廣泛適用于各類型工件的測量，在大批量復雜零部件的生產(chǎn)過程中，快速獲得清晰的測量結(jié)果至關(guān)重要。關(guān)鍵時刻，測量結(jié)果更須確鑿無疑。來自蔡司的工業(yè)測量技術(shù)保證了高水平的質(zhì)量控制。 ZEISS CMM CONTURA廣泛適用于各類型工件的測量，固定平臺橋式機體設(shè)計，融合先進的DLC鉆石涂層材質(zhì)橫梁和Z軸結(jié)構(gòu)，結(jié)合機器移動時高穩(wěn)定設(shè)計，兼之高精度掃描測頭系統(tǒng)及眾多技術(shù)優(yōu)勢，確保了系統(tǒng)的精度及動態(tài)性能；同時，高剛性結(jié)構(gòu)提高了系統(tǒng)對于環(huán)境的抗干擾性能及長久的穩(wěn)定性。

蔡司三坐標測量機

觸發(fā)測頭

我們以測量一個圓為例，分別評價其直徑、位置度、圓度。眾所周知，確定一個圓所需的很少測點數(shù)目是3個，這樣就能擬合出一個理論圓，且該圓的圓度是0。在實際測量中，很少發(fā)生僅用3個點就確定被測圓的情況。即使是對于公差較大的非關(guān)鍵尺寸，都會至少采集4個點用以確定被測圓，以免受到干擾因素影響導致產(chǎn)生較大誤差。

接觸式測頭采點

非接觸式光學測頭直接利用光點的反射信號來獲取被測點的坐標，不存在半徑補償?shù)沫h(huán)節(jié)，因此能夠完全余弦誤差產(chǎn)生的源頭。再者，在測量易變性零件時，雖然測力不大，但零件還是會在力的作用下造成一定變形(例如下圖中的薄葉片，測量頂部截面時，葉盆時葉片受到測力影響朝葉背方向彎曲，反之亦然)。雖然彎曲變形量不大，但是考慮到葉片本身極薄，其相對變形量還是非常可觀的，會對得出的輪廓度與位置度都造成非常大的影響。