磁性測(cè)厚儀在測(cè)定各種導(dǎo)磁材料的磁阻時(shí)，測(cè)定值會(huì)因其表面非導(dǎo)磁覆蓋層厚度的不同而發(fā)生變化。利用這種變化即可測(cè)知覆蓋層厚度值。常用于測(cè)定鐵磁金屬表面上的噴鋁層、塑料層、電鍍層、磷化層、油漆層等的厚度。渦流測(cè)厚儀當(dāng)載有高頻電流的探頭線圈置于被測(cè)金屬表面時(shí)，由于高頻磁場(chǎng)的作用而使金屬體內(nèi)產(chǎn)生渦流，此渦生的磁場(chǎng)又反作用于探頭線圈，使其阻抗發(fā)生變化，此變化量與探頭線圈離金屬表面的距離（即覆蓋層的厚度）有關(guān)，因而根據(jù)探頭線圈阻抗的變化可間接測(cè)量金屬表面覆蓋層的厚度。常用于測(cè)定鋁材上的氧化膜或鋁、銅表面上其他絕緣覆蓋層的厚度。

核心技術(shù)分析  

多層膜、膜成分、基材成分檢測(cè)。

下照式機(jī)頭光管及探測(cè)器，攝像頭的光路結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)。

XYZ三維移動(dòng)平臺(tái)的運(yùn)動(dòng)；

軟件實(shí)現(xiàn)圖像變形的修正及控制平臺(tái)的準(zhǔn)確選點(diǎn)運(yùn)動(dòng)。

單點(diǎn)或多點(diǎn)矩陣檢測(cè)

目前此行業(yè)內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)樣品極為稀缺，華唯獨(dú)有的FP算法無需標(biāo)準(zhǔn)樣品標(biāo)定，即可對(duì)樣品進(jìn)行分析，幫助客戶徹底擺脫對(duì)標(biāo)準(zhǔn)樣品的高度依賴。

XRF在礦石領(lǐng)域的應(yīng)用

隨著我國(guó)社會(huì)經(jīng)濟(jì)的發(fā)展，我國(guó)礦業(yè)目前正處于轉(zhuǎn)型期，朝著生態(tài)環(huán)保、高質(zhì)量發(fā)展、資源節(jié)約、技術(shù)創(chuàng)新是礦業(yè)的發(fā)展方向，這對(duì)礦產(chǎn)采選、冶煉、深加工等環(huán)節(jié)中對(duì)礦產(chǎn)品質(zhì)檢測(cè)有了更嚴(yán)格的要求。

X射線熒光分析技術(shù)是一種快速、無損、度、可多元素同時(shí)測(cè)定的物質(zhì)測(cè)量方法。適合于礦產(chǎn)主量、次量及微量成分分析具有簡(jiǎn)便、快速的優(yōu)點(diǎn)，這些特點(diǎn)使得該分析技術(shù)在許多領(lǐng)域都更加便攜且更具優(yōu)勢(shì)。

TrueX 礦石分析儀能夠在很少或沒有樣本準(zhǔn)備的情況下，在活動(dòng)的各個(gè)階段，包含從基層勘探開發(fā)，到礦石品位控制，甚至環(huán)境調(diào)查等情況下，提供快速、準(zhǔn)確的元素分析結(jié)果，與傳統(tǒng)的實(shí)驗(yàn)室方法相比，樣品吞吐量高，樣品密度增加，省時(shí)省心又省力。