大塚電子（蘇州）有限公司主要銷售用于光學(xué)特性評價?檢查的裝置。其裝置用于在LED、 OLED、汽車前燈等的光源?照明產(chǎn)業(yè)以及液晶顯示器、有機EL顯示器等平板顯示產(chǎn)業(yè)以及其相 關(guān)材料的光學(xué)特性評價?檢查。歡迎新老客戶來電咨詢！

購買須知

1、廠家貨源正i品

日本原裝。

2、關(guān)于尺碼

按照出廠產(chǎn)品資料有說明。

3、關(guān)于顏色

4、關(guān)于客服

客戶全天24小時在線，如需緊急處理，請致電公司 。

5、關(guān)于售后

日本產(chǎn)品保修一年，消耗品不再維修范圍內(nèi)。

rets相位差光學(xué)材料量

產(chǎn)品特點：可更加精準的量測低相位差(0.1nm～)適合作為評估相位差的波長分散、自動檢測配向角(光學(xué)軸)或角度配向性等光學(xué)膜偏光特性的裝置。檢測器采用多頻譜分光光譜儀，展現(xiàn)任一個波長的相位差量測?？蛇x配傾斜式、旋轉(zhuǎn)式量測平臺，評估三次元折射率參數(shù)分析等眼簾角特性。共同量測樣品，從容架構(gòu)量測平臺。

本設(shè)備是利用瞬間多通道測光檢出器和自動大型Ｘ－Ｙ平臺以及偏光光學(xué)系，測定透過型液晶面板面內(nèi)的cellgap和預(yù)斜角（含ＭＶＡ）的系統(tǒng)。

  本Software自動制御偏光Prism unit和MCPD，測量LCD Cell Gap以及Pre-tilt角的測量。每個Sample品種，會準備Recipe（測量條件File）所以O(shè)perator 放置Sample后，選擇Recipe，即可實現(xiàn)測量。