在大批量電子產(chǎn)品的生產(chǎn)中對產(chǎn)品進(jìn)行老化、測試是許多企業(yè)保證質(zhì)量的必要步驟。現(xiàn)有的測試以及老化模式是在恒溫老化房中排放測試貨架，電路板產(chǎn)品置于貨架上，通過操作人員人工接線連接電源進(jìn)行測試，其有以下弊端：

1、現(xiàn)有老化測試柜的通過貨架放置測試產(chǎn)品，然而，貨架因需兼容各種型號產(chǎn)品導(dǎo)致占用空間大，空間利用率不高；

2、由于采用貨架方式測試?yán)匣錇殚_放式空間需對整個房間進(jìn)行加溫，加溫效率低下且不環(huán)保，造成耗能浪費(fèi)

根據(jù)多年的行業(yè)經(jīng)驗(yàn)給出以下老化房維護(hù)保養(yǎng)建議：

1.老化房維護(hù)保養(yǎng)排風(fēng)機(jī)、風(fēng)道的保養(yǎng)排風(fēng)機(jī)，風(fēng)道每半年需清潔一次，檢查排風(fēng)機(jī)的絕緣度；風(fēng)道是否有異物堵塞；

2.內(nèi)外部的清潔與保養(yǎng)機(jī)器在操作前應(yīng)先將內(nèi)部雜質(zhì)雜物清干凈配電室內(nèi)每年至少清潔一次以上，清潔時，可利用吸塵器將室內(nèi)灰塵吸除即可控制箱體外部每年亦須清洗一次以上，清洗時先用肥皂水擦拭即可；

3.面板上儀表的保養(yǎng)

配電箱面板上的儀表每月需清潔一次，清潔時用干棉布擦拭即可；

液晶屏老化測試房

半導(dǎo)體和微芯片也可能由于成核， MOSFET柵極中電荷載流子的積累，鈍化不當(dāng)?shù)仍蚨?。所有這些原因均導(dǎo)致其在較高溫度下的概率增加，其中包括較高的泄漏電流，較低的信噪比（容易出錯）晶體管的性能損失，商速緩存的丟失甚至損壞。硅的晶體結(jié)構(gòu)。電容器和電阻器也不能很好地承受熱量，較高的溫度會縮短其使用壽命。就是說，測試電子設(shè)備的關(guān)鍵要素是施加熱量，如果組件中有任何缺陷，您很快就會知道。