使用熱釋光劑量片時需要注意哪些？

1、測量后應將探測器放在金屬盒里或金屬板上；

2、要用清潔的鑷子輕取探測器，切勿用手接觸探測器，以免沾污。對污染的片狀探測器(用手觸摸、掉在地板或桌面上)盡量剔除，切勿用酒精棉球擦洗再用；

3、熱釋光探測器要用清潔、光滑、不起毛紙包裝；

4、放置熱釋光探測器的器具要保持清潔，要用清潔的鑷子輕取探測器，切勿用手接觸探測器；

5、熱釋光探測器在照射后和經(jīng)過熱處理后盡量放在的熱釋光探測器低本底鉛室或其它低本底鉛室中保存。

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熱釋光探測器的原理

熱釋光探測器是利用熱致發(fā)光原理測量輻射的裝置。熱釋光發(fā)光體作為劑量元件，把接收到的射線的能量儲存積累起來，由熱釋光加熱發(fā)光裝置加熱后，劑量元件發(fā)出光，通過光電倍增管轉(zhuǎn)換成電信號并輸出顯示。當射線照射時，在固體中產(chǎn)生的電子和正離子被其俘獲。檢測時加熱固體，則釋放的電子和正離子與固體其他部分的異性電荷復合并發(fā)光。其發(fā)光光線穿過并導至光電倍增管產(chǎn)生光電流，再經(jīng)直流放大器放大，后通過記錄器記錄。

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熱釋光的發(fā)光曲線

熱釋光的發(fā)光曲線就是動力學模型表達式的圖形顯示。它具有以下幾個特征。

1）磷光體的熱釋發(fā)光曲線的形狀（峰數(shù)等）與其能級及晶格中的缺陷有關(guān)。不同的磷光體具有不同的陷阱能級。同一磷光體存在著一個或多個不同的陷阱能級。低溫峰對應能量較低的淺陷阱。高溫峰對應能量較高的深陷阱。

2）磷光體的熱釋光強度（發(fā)光峰的高度或發(fā)光峰的面積）與發(fā)光中心的電子、空穴數(shù)有關(guān)，而后者取決于所接受照射劑量的大小。在線性劑量范圍內(nèi)磷光體的熱釋光強度與所接受的輻照劑量成正比。

3）磷光體熱發(fā)光曲線的形狀還與其他一些參數(shù)有關(guān)，如熱釋光探測器的光譜響應靈敏度、加溫速率以及磷光體和加熱介質(zhì)之間的熱接觸等。

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