熱釋光劑量片的原理

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熱釋光劑量片是利用熱致發(fā)光原理測量核輻射的裝置。具有晶體結構的某些固體，常含有多種晶格缺陷(如一些原子或離子缺位或加入某些外來雜質等)，它們能吸引異性電荷形成"陷阱"。當射線照射時，在固體中產(chǎn)生的電子和正離子被其俘獲。如對LiF，要在400℃下保持1h，在該條件下，可使400℃下的所有發(fā)光峰陷阱中的電子全部釋放出來，而陷阱能級并不破壞。檢測時加熱固體，則釋放的電子和正離子與固體其他部分的異性電荷復合并發(fā)光。其發(fā)光光線穿過并導至光電倍增管產(chǎn)生光電流，再經(jīng)直流放大器放大，通過記錄器記錄。

廣泛應用于輻射防護、醫(yī)學、生物學、地質學、考古學和環(huán)境保護等領域，尤其在個人劑量監(jiān)測中被廣泛使用。

熱釋光的發(fā)光曲線

熱釋光的發(fā)光曲線就是動力學模型表達式的圖形顯示。它具有以下幾個特征。

1）磷光體的熱釋發(fā)光曲線的形狀（峰數(shù)等）與其能級及晶格中的缺陷有關。不同的磷光體具有不同的陷阱能級。同一磷光體存在著一個或多個不同的陷阱能級。低溫峰對應能量較低的淺陷阱。高溫峰對應能量較高的深陷阱。

2）磷光體的熱釋光強度（發(fā)光峰的高度或發(fā)光峰的面積）與發(fā)光中心的電子、空穴數(shù)有關，而后者取決于所接受照射劑量的大小。在線性劑量范圍內磷光體的熱釋光強度與所接受的輻照劑量成正比。

3）磷光體熱發(fā)光曲線的形狀還與其他一些參數(shù)有關，如熱釋光探測器的光譜響應靈敏度、加溫速率以及磷光體和加熱介質之間的熱接觸等。

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熱釋光探測器的應用

熱釋光探測器簡稱熱釋光劑量片，是近十年來在熱探測領域得到重要發(fā)展的一種新型熱探測器。據(jù)報道這種探測器可以廣泛地用于輻射溫度測量、紅外光譜測量等領域。以上就是關于熱釋光劑量片的相關內容介紹，如有需求，歡迎撥打圖片上的熱線電話。紅外線的輻射波長約 0.77～1000pm，紅外輻射的不同波段有不同的應用。從軍事上的紅外線制導紅外成像夜視，到包含高新技術的紅外氣象，從工業(yè)上普遍應用的紅外光電計數(shù)器、紅外測溫儀、紅外氣體分析儀，到民用的波動式紅外防盜報警器、人體紅外自動照明開關等，紅外傳感技術已在空間、工農業(yè)、民用等各個領域得到廣泛應用。

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熱釋光探測器的優(yōu)勢

在室溫下工作，不需制冷即能獲得很高的靈敏度，可與低溫下高靈敏度的測輻射熱計相媲美。輸出阻抗是純電容性的，直流阻抗極高。體積小、重量輕、堅固。因此，熱釋光探測器是一種很理想的紅外輻射探測器，在熱探測領域中占有十分重要的位置。

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