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光譜分析儀的用途和特點(diǎn)“本信息長(zhǎng)期有效”

發(fā)布時(shí)間:2020-12-11 07:38  

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一六 熒光測(cè)厚儀 十年以上研發(fā)團(tuán)隊(duì) 集研發(fā)生產(chǎn)銷售一體

元素分析范圍:氯(CI)- 鈾(U)   厚度分析范圍:各種元素及有機(jī)物

一次可同時(shí)分析:23層鍍層,24種元素 厚度檢出限:0.005um

鍍層厚度分析儀簡(jiǎn)介鍍層厚度分析儀又叫涂鍍層測(cè)量?jī)x、電鍍層測(cè)試儀、防腐層檢測(cè)儀、涂鍍層測(cè)試儀、涂鍍層測(cè)量?jī)x、油漆測(cè)厚儀價(jià)格、油漆層測(cè)厚儀、油漆膜厚儀、鋼結(jié)構(gòu)油漆層測(cè)厚儀、鋼板油漆測(cè)厚儀、鋼管油漆測(cè)厚儀、油漆防腐層測(cè)厚儀、油罐防腐層測(cè)厚儀可無(wú)損地測(cè)量磁性金屬基體(如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等)上非磁性涂層的厚度(如鋁、鉻、銅、琺瑯、橡膠、油漆等)及非磁性金屬基體(如銅、鋁、鋅、錫等)上非導(dǎo)電覆層的厚度(如:琺瑯、橡膠、油漆、塑料等)。涂鍍層測(cè)厚儀具有測(cè)量誤差小、可靠性高、穩(wěn)定性好、操作簡(jiǎn)便等特點(diǎn),是控制和保證產(chǎn)品質(zhì)量必不可少的檢測(cè)儀器,廣泛地應(yīng)用在制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測(cè)領(lǐng)域。1mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿足微小測(cè)試點(diǎn)的需求一次可同時(shí)分析多達(dá)五層鍍層度適應(yīng)范圍為15℃至30℃鍍層厚度一般在50μm以內(nèi)(每種材料有所不同)分析含量一般為2ppm到99。

鍍層厚度測(cè)量已成為加工工業(yè)、表面工程質(zhì)量檢測(cè)的重要環(huán)節(jié),是產(chǎn)品達(dá)到優(yōu)等質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)的必要手段。為使產(chǎn)品國(guó)際化,我國(guó)出口商品和涉外項(xiàng)目中,對(duì)鍍層厚度有了明確要求。

鍍層厚度分析儀的測(cè)量方法主要有:楔切法,光截法,電解法,厚度差測(cè)量法,稱重法,X射線熒光法,β射線反向散射法,電容法、磁性測(cè)量法及渦流測(cè)量法等等。這些方法中前五種是有損檢測(cè),測(cè)量手段繁瑣,速度慢,多適用于抽樣檢驗(yàn)。

X射線和β射線法是無(wú)接觸無(wú)損測(cè)量,測(cè)量范圍較小,X射線法可測(cè)極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。β射線法適合鍍層和底材原子序號(hào)大于3的鍍層測(cè)量。電容法僅在薄導(dǎo)電體的絕緣覆層測(cè)厚時(shí)采用。

隨著技術(shù)的日益進(jìn)步,特別是近年來(lái)引入微機(jī)技術(shù)后,X射線鍍層厚度分析儀向微型、智能、多功能、、實(shí)用化的方向進(jìn)了一步。測(cè)量的分辨率已達(dá)0.1微米,精度可達(dá)到1%,有了大幅度的提高。它適用范圍廣,量程寬、操作簡(jiǎn)便且價(jià)廉,是工業(yè)和科研使用廣泛的測(cè)厚儀器。江蘇一六儀器X射線熒光光譜測(cè)厚儀產(chǎn)品配置X光金屬鍍層測(cè)厚儀標(biāo)準(zhǔn)配置為:X射線管,正比計(jì)數(shù)器﹨半導(dǎo)體探測(cè)器,高清攝像頭,高度激光,信號(hào)檢測(cè)電子電路。


江蘇一六儀器有限公司是一家專注于光譜分析儀器研發(fā)、生產(chǎn)、銷售的高新技術(shù)企業(yè)。公司位于上海和蘇州中間的昆山市城北高新區(qū)。我們專業(yè)的研發(fā)團(tuán)隊(duì)具備十年以上的從業(yè)經(jīng)驗(yàn),經(jīng)與海內(nèi)外多名專家通力合作,研究開發(fā)出一系列能量色散X熒光光譜儀。廣泛應(yīng)用于電子元器件、LED和照明、家用電器、通訊、汽車電子等制造領(lǐng)域。江蘇一六儀器有限公司是一家專注于光譜分析儀器研發(fā)、生產(chǎn)、銷售的高新技術(shù)企業(yè)。

熒光X射線的強(qiáng)度與相應(yīng)元素的含量有一定的關(guān)系,據(jù)此,可以進(jìn)行元素量分析。但是由于影響熒光X射線的強(qiáng)度的因素較多,除待測(cè)元素的濃度外,儀器校正因子,待測(cè)元素X射線熒光強(qiáng)度的測(cè)定誤差,元素間吸收增加效應(yīng)校正,樣品的物理形態(tài)(如試樣的均勻性、厚度,表面結(jié)構(gòu)等)等都對(duì)定了分析結(jié)果產(chǎn)生影響。由于受樣品的基體效應(yīng)等影響較大,因此,對(duì)于標(biāo)注樣品要求很嚴(yán)格,只有標(biāo)準(zhǔn)樣品與實(shí)際樣品集體和表面狀態(tài)相似,才能保證定量結(jié)果的準(zhǔn)確性。其電鍍工藝流程如下:浸酸→全板電鍍銅→圖形轉(zhuǎn)移→酸性除油→二級(jí)逆流漂洗→微蝕→二級(jí)浸酸→鍍錫→二級(jí)逆流漂洗→浸酸→圖形電鍍銅→二級(jí)逆流漂洗→鍍鎳→二級(jí)水洗→浸檸檬酸→鍍金→回收→2-3級(jí)純水洗→烘干。


江蘇一六儀器  X射線熒光鍍層測(cè)厚儀

      電鍍液測(cè)量杯整套含兩個(gè)測(cè)量杯,可用于多品牌X-RAY測(cè)厚儀上使用,高純?cè)乇镜滋岣邷y(cè)量精度和檢出限。電鍍液測(cè)試樣品杯,嚴(yán)格控制了容量和溢出物的處理,用來(lái)測(cè)試溶液中金屬離子的濃度;使用方便簡(jiǎn)捷,無(wú)污染。

測(cè)試膜,又名X射線熒光光譜儀樣品薄膜,邁拉膜,麥拉膜,XRF測(cè)試薄膜,XRF樣品膜,樣品薄膜,EDX薄膜,EDX樣品薄膜,ROHS檢測(cè)膜,光譜儀樣品薄膜;利用偏壓收集這些電子空穴對(duì),經(jīng)過(guò)一系列轉(zhuǎn)換器以后變成電壓脈沖供給多脈沖高度分析器,并計(jì)數(shù)能譜中每個(gè)能帶的脈沖數(shù)。是應(yīng)用于X熒光光譜儀的用于保留液體、粉末、泥漿或固體樣本在樣本杯內(nèi)的物質(zhì)。專用樣品薄膜是使用方便簡(jiǎn)捷,無(wú)污染的測(cè)試用樣品薄膜,廣泛應(yīng)用于Elite、fischer、牛津、博曼、先鋒、日立、天瑞等各種品牌的EDX/XRF光譜儀。



江蘇一六儀器  專業(yè)涂鍍層研發(fā)、生產(chǎn)、銷售高新技術(shù)企業(yè)。其中穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng)、先進(jìn)的解譜方法和EFP算法結(jié)合精準(zhǔn)定位及變焦結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì),解決了各種大小異形、多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析的業(yè)界難題。

單鍍層:Zn, Ni,Cr,Cu,Ag,Au,Sn等。

雙鍍層:Au/Ni/Cu,Cr/Ni/Cu,Au/Ag/Ni,Sn/Cu/Brass,等等。

三鍍層:Au/Ni/Cu/ABS,Au/Ag/Ni/Cu, Au/Ni/Cu/Fe,等等

一、功能

1. 采用 X 射線熒光光譜法無(wú)損測(cè)量金屬鍍層、覆蓋層厚度,測(cè)量方法滿足

GB/T 16921-2005 標(biāo)準(zhǔn)(等同 ISO3497:2000、 ASTM B568 和 DIN50987)。

2.  鍍層層數(shù):多至 5 層。

3. 測(cè)量點(diǎn)尺寸:圓形測(cè)量點(diǎn),直徑約 0.2—0.8毫米。

4. 測(cè)量時(shí)間:通常 30 秒。

5. 測(cè)量誤差:通常小于 5%,視樣品具體情況而定。

6. 可測(cè)厚度范圍:通常 0.01 微米到 30 微米,視樣品組成和鍍層結(jié)構(gòu)而定。