冷熱沖擊試驗(yàn)箱（冷熱沖擊箱、變頻高低溫冷熱沖擊實(shí)驗(yàn)箱）

冷熱沖擊試驗(yàn)箱一般指高低溫沖擊試驗(yàn)箱

高低溫沖擊試驗(yàn)箱用于電子電器零組件、自動(dòng)化零部件、通訊組件、汽車配件、金屬、化學(xué)材料、塑膠等行業(yè)，工業(yè)、航天、兵工業(yè)、BGA、PCB基扳、電子芯片IC、半導(dǎo)體陶磁及高分子材料之物理牲變化，測(cè)試其材料對(duì)高、低溫的反復(fù)抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害，可確認(rèn)產(chǎn)品的品質(zhì)，從精密的IC到重機(jī)械的組件，都會(huì)用到，是各領(lǐng)域?qū)Ξa(chǎn)品測(cè)試的必不可少的一項(xiàng)測(cè)試箱。不應(yīng)將老化產(chǎn)品堆積或擺放無序，以免影響老化效果和對(duì)產(chǎn)品造成損壞。

高低溫試驗(yàn)箱：太陽模擬輻照試驗(yàn)箱溫度控制

太陽模擬輻照試驗(yàn)箱內(nèi)紫外光循環(huán)期，光化學(xué)反應(yīng)通常對(duì)溫度并不敏感。但其后發(fā)生的任何反應(yīng)的速率均取決于溫度的高低。這些反應(yīng)的速率隨溫度的升高而加快。故而，高低溫試驗(yàn)箱控制紫外曝光時(shí)的溫度十分重要。另外，還必使加速老化試驗(yàn)的溫度與材料直接暴露在陽光下的高溫度相一致。在步入式高低溫試驗(yàn)箱系統(tǒng)內(nèi)放置的試驗(yàn)產(chǎn)品離空氣調(diào)節(jié)通道的吸、排風(fēng)口應(yīng)有一定的距離，以免妨礙空氣的流通。在太陽模擬輻照試驗(yàn)箱中，紫外曝光溫度根據(jù)照度和環(huán)境溫度，可設(shè)置在50℃~80℃之間的任一溫度。紫外曝光溫度由受一個(gè)靈敏的溫控器和鼓風(fēng)系統(tǒng)來調(diào)節(jié)使本試驗(yàn)箱的溫度有較好的均勻性。

起始溫度要求雖然一般的冷熱沖擊試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)中對(duì)冷熱沖擊試驗(yàn)的起始溫度不予提及或不做硬性規(guī)定，但這卻是試驗(yàn)進(jìn)行時(shí)必須考慮的問題，因?yàn)樯婕暗皆囼?yàn)是結(jié)束在低溫還是高溫狀態(tài)，從而決定了是否需要對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行烘干，導(dǎo)致延長(zhǎng)試驗(yàn)時(shí)間。

如果試驗(yàn)結(jié)束在低溫標(biāo)準(zhǔn)受試產(chǎn)品從冷熱沖擊試驗(yàn)箱（室）內(nèi)取出后，應(yīng)在正常的試驗(yàn)大氣條件下進(jìn)行恢復(fù)，直到樣品到到達(dá)溫度穩(wěn)定，這一操作難免使試驗(yàn)樣品表面產(chǎn)生凝露引入溫度對(duì)產(chǎn)品的影響。從而改變?cè)囼?yàn)的性質(zhì)。