平板探測器與膠片的處理

平板探測器與膠片的處理過程不同，在每次檢測期間，不必更換膠片，僅僅需要幾秒鐘的數(shù)據(jù)采集，就可以在計(jì)算機(jī)上觀察到圖像，檢測速度和效率大大高于膠片成像技術(shù)。成像質(zhì)量也比圖像增強(qiáng)器好很多，不僅成像區(qū)均勻，沒有邊緣幾何變形，而且空間分辨率和靈敏度要高得多，其圖像質(zhì)量已接近或達(dá)到膠片照相水平。平板探測器是目前市面上X射線檢測設(shè)備較多使用的成像組件。適用場景廣泛，可用于離線設(shè)備也可用于在線設(shè)備，在線使用過程中采用間歇式的檢測方式也可以很好的對接企業(yè)產(chǎn)線，提高檢測效率。

調(diào)整金屬檢測設(shè)備靈敏度時,探測盤(振蕩線圈)應(yīng)遠(yuǎn)離金屬

在使用金屬檢測設(shè)備之前，需要調(diào)整探桿的長度。只要松開黑色膠管，就把膠管套推拉到合適的長度，然后轉(zhuǎn)動內(nèi)膠管使電纜繃緊，手柄向上。后，黑色膠管被擰緊并鎖緊。這樣，當(dāng)握住探測器手柄時，拇指正好挨著靈敏度調(diào)節(jié)電位計(jì)。調(diào)整金屬檢測設(shè)備靈敏度時，探測盤（振蕩線圈）應(yīng)遠(yuǎn)離金屬，包括帶鋁箔的紙張，然后旋轉(zhuǎn)靈敏度微調(diào)電位器旋鈕（微調(diào)），打開電源開關(guān)，將其轉(zhuǎn)到一半位置。然后調(diào)整調(diào)諧旋鈕，停止揚(yáng)聲器的聲音。

極大的工藝缺陷覆蓋范圍自動X射線檢測技術(shù)對工藝缺陷的覆蓋率高達(dá)97%，同時能觀察到其他測試手段無法可靠探測到的缺陷。較高的測試覆蓋度，自動X 射線檢測技術(shù)可以對肉眼和在線測試(ICT)檢查不到的地方進(jìn)行檢查。X射線可穿過PCB板的基板材料，因此可同時對雙層板或多層板進(jìn)行檢測，每一層的缺陷便可一目了然，極大地提升了光學(xué)檢測效率；