美國(guó)SciAps Inc.(賽普司)始于1998年，總部位于美國(guó)波士頓，是較早專(zhuān)注于便捷式元素分析光譜研發(fā)的高新技術(shù)企業(yè)。是聯(lián)合國(guó)核查組織認(rèn)可的技術(shù)享有者之一，經(jīng)過(guò)二十年的積累，已成為從事全產(chǎn)品線手特光譜分析設(shè)備的研究機(jī)構(gòu)。

應(yīng)用：

礦產(chǎn)勘探：

◆預(yù)篩選樣本,提高在現(xiàn)場(chǎng)以外的實(shí)驗(yàn)室檢測(cè)的效率

◆鉆孔時(shí),可以對(duì)空心、RAB、 RC、鉆石芯等樣本進(jìn)行分析

天津市聯(lián)創(chuàng)蔚萊科技發(fā)展有限公司，坐落于陳塘國(guó)家自主創(chuàng)新示范區(qū)。以南京理工大學(xué)北方研究院為載體，立足天津，輻射周邊，通過(guò)創(chuàng)新的合作共贏模式，匯聚了國(guó)內(nèi)外理化儀器的生產(chǎn)企業(yè)。

在元素分析及材料類(lèi)型分析領(lǐng)域， 激光誘導(dǎo)擊穿光譜(LIBZ)分析儀提供一種能取代手持 X 射線光譜儀及火花直讀光譜儀的技術(shù)。與光學(xué)火花發(fā)射光譜（OES)技術(shù)類(lèi)似，在LIBZ 分析過(guò)程中, 很高的強(qiáng)度激光斑(等離子體)在分析材料表面形成。 待離子體冷卻后不同元素的特征光譜被LIBZ 感應(yīng)到。不同長(zhǎng)度的特征光代表了不同的元素， 特定特征光的強(qiáng)度代表了特定元素的含量。技術(shù)處理的X射線率比硅漂移探測(cè)器低10-20倍，分辨率比硅漂移探測(cè)器低100eV（更寬）。

可用的應(yīng)用程序

Alloy  Mode / Empirical mode/ Profile Builder/ Element Pro Mode

光譜數(shù)據(jù)采集

在無(wú)門(mén)或門(mén)禁操作中收集的頻譜數(shù)據(jù)，用戶(hù)可設(shè)置的門(mén)控延遲

操作/亞氣凈化

在亞凈化環(huán)境中操作的用戶(hù)可換的亞氣瓶。亞罐在換前提供大約600個(gè)測(cè)試。