蔡司三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)

三坐標(biāo)測(cè)頭

如果不事先定義和校準(zhǔn)測(cè)頭，軟件系統(tǒng)本身是無法獲知所使用的探針類型和測(cè)量的角度。測(cè)量得到的數(shù)據(jù)結(jié)果自然是不正確的。因此，必須要對(duì)所使用的測(cè)頭進(jìn)行校驗(yàn)，使得軟件知道所配置的探針情況，包括探針數(shù)量、方位、探針半徑及探針球心的相互位置關(guān)系。并且了解所使用探針的精度狀況，做到及時(shí)更換以確保實(shí)現(xiàn)測(cè)量的精度要求。

顧名思義，形位公差實(shí)際上包含了兩類不同的元素特征評(píng)價(jià)內(nèi)容，一類是形狀公差、另一類是位置公差。形狀公差共包含直線度、平面度、圓度、圓柱度、線輪廓度和面輪廓度;而位置公差共包含平行度、垂直度、傾斜度、位置度、同心度、同軸度和對(duì)稱度。另外，還有一類特殊的形位公差稱作跳動(dòng)，包括徑向/端面圓跳動(dòng)和徑向/端面全跳動(dòng)。跳動(dòng)從實(shí)質(zhì)上來說,也是評(píng)價(jià)被測(cè)元素的形狀誤差，因此我們不妨將其也歸入形狀誤差一類。

光學(xué)測(cè)頭雖然有一些接觸式測(cè)頭無法提供的優(yōu)勢(shì)，但并無法完全替代接觸式測(cè)頭，其原因在于光線的可觸及性不如接觸式測(cè)頭。測(cè)球的各個(gè)部位都可以去接觸被測(cè)物體來采點(diǎn)，但光的傳播是沿直線的，我們無法讓光“轉(zhuǎn)彎”，必然有一些特征讓光線力所不能及，比如徑深比很小的孔、或是需要L型測(cè)針的場(chǎng)合，接觸式測(cè)頭比光學(xué)測(cè)頭更方便。

沒有好的測(cè)頭，究竟怎么選擇還是取決于測(cè)量需求。在繁多的測(cè)頭種類面前，應(yīng)該不只是以預(yù)算為導(dǎo)向，也不一定要追求全能型的測(cè)頭，找到真正合適的產(chǎn)品，才能既快又好地做好質(zhì)量控制。