計(jì)量校準(zhǔn)的介紹　　

校準(zhǔn)和測(cè)量能力。校準(zhǔn)和測(cè)量能力(CMC)是校準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)室在常規(guī)條件下能夠提供給客戶的校準(zhǔn)和測(cè)量的能力，其應(yīng)是在常規(guī)條件下的校準(zhǔn)中可獲得的的測(cè)量不確定度。國(guó)際上，實(shí)驗(yàn)室認(rèn)可合作組織(ILAC)互認(rèn)協(xié)議的認(rèn)可機(jī)構(gòu)認(rèn)可的校準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)室的認(rèn)可范圍中原來(lái)使用的是測(cè)量能力(BMC)，而簽署CIPM互認(rèn)協(xié)議的各國(guó)家計(jì)量院在國(guó)際計(jì)量局(BIPM)的關(guān)鍵比對(duì)數(shù)據(jù)庫(kù)(KCDB)中使用的是校準(zhǔn)測(cè)量能力。

計(jì)量測(cè)量誤差的介紹

測(cè)量誤差的含義，測(cè)量的目的是確定被測(cè)量的真值，但在測(cè)量過(guò)程中，由于測(cè)量器具本身的誤差以及受到測(cè)量方法、測(cè)量條件諸因素的制約，其測(cè)得值往往不是被測(cè)量的真值勤，兩者之間必然存在著差異。這種由于測(cè)量的不完善造成的測(cè)得值與被測(cè)量真值之間的差異，稱為測(cè)量誤差。測(cè)量誤差的來(lái)源是多方面的，主要來(lái)源如下：標(biāo)準(zhǔn)器具誤差

原理誤差，設(shè)計(jì)測(cè)量器具時(shí)以近似的實(shí)際工作原理代替理論工作原理所造成的誤差稱為原理誤差。例如，以線性標(biāo)尺代替理論上要求的非線性標(biāo)尺造成的誤差原理誤差往往已在設(shè)計(jì)時(shí)進(jìn)行修正，故可忽略不計(jì)。阿貝誤差，由于量?jī)x的結(jié)構(gòu)或工件的安置違背“阿貝原則”所造成的誤差稱為阿貝誤差?！鞍⒇愒瓌t”是要求被測(cè)長(zhǎng)度與基準(zhǔn)長(zhǎng)度安置在同一直線上的原則。