光澤度計(jì)的角度大多可以分為一下幾種

光澤度計(jì)的角度大多可以分為一下幾種，20°，45°，60°，75°，85°等，當(dāng)然，為了順應(yīng)時(shí)代的潮流，有些光澤度儀廠家想辦法創(chuàng)新方法，也會(huì)推出一些智能型的光澤儀，例如速德瑞雙角度光澤儀或者三角度光澤度儀(SDR268)。一般情況下，我們把20°的稱為低光澤儀，85°稱為高光澤儀。一般市場(chǎng)上使用較多的就是60°光澤儀。

光澤度儀測(cè)試過(guò)程中需要注意哪些問(wèn)題

檢測(cè)塑料的光澤度的目的在于根據(jù)數(shù)據(jù)檢查評(píng)估產(chǎn)品的質(zhì)量好壞，并指出生產(chǎn)條件是否與材料表面光澤度有關(guān)系。塑料的折射率范圍大致在1.4~1.6，光澤度大體在70~110光澤度單位之內(nèi)，但透明塑料及半透明塑料其反光情況是不一樣的，不能一概而論。 光澤度儀測(cè)試過(guò)程中需要注意哪些問(wèn)題： 首先，儀器的校準(zhǔn)板一定要保證干凈，不能有灰塵及污漬，因?yàn)闃?biāo)準(zhǔn)板不干凈會(huì)導(dǎo)致整個(gè)測(cè)試數(shù)據(jù)的不準(zhǔn)確，是直接放在儀器底座。 其次，儀器開(kāi)機(jī)一定要有自檢自校功能，自動(dòng)診斷，及時(shí)發(fā)現(xiàn)系統(tǒng)錯(cuò)誤、操作不當(dāng)、標(biāo)準(zhǔn)版污損所引起的儀器通不過(guò)自校準(zhǔn)的問(wèn)題。 再次，儀器在使用完后，存放環(huán)境應(yīng)避開(kāi)熱源、腐蝕物，存儲(chǔ)在干燥的地方。

了解涂層測(cè)厚儀器基本知識(shí)及測(cè)量應(yīng)用

了解涂層測(cè)厚儀器基本知識(shí)及測(cè)量應(yīng)用

　　★對(duì)材料表面維護(hù)、裝修構(gòu)成的覆蓋層，如涂層、鍍層、貼層、化學(xué)生成膜等，在有關(guān)國(guó)家和國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)中稱為覆層。覆層厚度測(cè)量已成為加工工業(yè)、外表工程質(zhì)量檢查的重要一環(huán)，是商品到達(dá)優(yōu)等質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)的必備手法。為使商品國(guó)際化，中國(guó)出口商品和涉外項(xiàng)目中，對(duì)覆層厚度有了清晰的要求。

　　★覆層厚度的測(cè)量辦法首要有：楔切法，光截法，電解法，厚度差測(cè)量法，稱重法，X射線熒光法，β射線反向散射法，電容法、磁性測(cè)量法及渦流測(cè)量法等。這些辦法中前五種是有損檢查，測(cè)量手法繁瑣，速度慢，多適用于抽樣查驗(yàn)。

　　★X射線和β射線法是無(wú)觸摸無(wú)損測(cè)量，但設(shè)備雜亂貴重，測(cè)量規(guī)模較小。因有源，使用者有必要恪守射線防護(hù)標(biāo)準(zhǔn)。X射線法可測(cè)極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。β射線法適宜鍍層和底材原子序號(hào)大于3的鍍層測(cè)量。電容法僅在薄導(dǎo)電體的絕緣覆層測(cè)厚時(shí)選用。

　　★隨著技能的日益前進(jìn)，特別是這些年引進(jìn)微機(jī)技能后，選用磁性法和渦流法的測(cè)厚儀向微型、智能、多功能、高精度、實(shí)用化的方向進(jìn)了一步。測(cè)量的分辨率已達(dá)0.1微米，精度可到達(dá)1%，有了大幅度的進(jìn)步。

　　★它適用規(guī)模廣，量程寬、操作簡(jiǎn)潔且價(jià)廉，是工業(yè)和科研使用*廣泛的涂層測(cè)厚儀器;選用無(wú)損辦法既不損壞覆層也不損壞基材，檢查速度快，能使很多的檢查作業(yè)經(jīng)濟(jì)地進(jìn)行。