鋼研納克SparkCCD7000

高分辨率 CCD 檢測(cè)器

像素?cái)?shù)：3648 46 全行業(yè)較高

像素尺寸：8μm 全行業(yè)較小

精薄鍍膜，紫外波段檢出限更低，可做低含量 N

萬(wàn)級(jí)超凈環(huán)境下打造較優(yōu)光學(xué)系統(tǒng)

帕邢 - 龍格結(jié)構(gòu)羅蘭光學(xué)系統(tǒng)，無(wú)像差，分辨率均勻

高發(fā)光全息光柵，光柵焦距 500mm, 刻線(xiàn)為 2700 條 /mm，全行業(yè)較高

線(xiàn)分辨率 0.7407nm/mm

像素分辨率 0.005926nm

譜線(xiàn)范圍：130-800nm（可分析 N、Li、 Na、K 等元素）

智能控制系統(tǒng)，再啟動(dòng)耗時(shí)行業(yè)較低

潮汐式?jīng)_洗方式，冷機(jī)（關(guān)機(jī) 12 小時(shí)）啟動(dòng)只需 30min，熱機(jī)啟動(dòng)時(shí)間 5min

智能判斷分析間隔時(shí)間，合理補(bǔ)充氣，降低氣消耗

60ml/min 超低待機(jī)流量，一瓶氣 24 小時(shí)待機(jī) 70 天

分片式曝光，痕量元素識(shí)別強(qiáng)度大幅提高，檢出限更低

一次激發(fā)，分片曝光，同時(shí)采集，同時(shí)回?cái)?shù)

獨(dú)立控制不同 CCD 的積分曝光時(shí)間

提升痕量元素的強(qiáng)度，降低儀器的檢出限

隨波段調(diào)節(jié)積分時(shí)間，提升儀器的 穩(wěn)定性

儀器測(cè)定結(jié)果偏差較大，分析結(jié)果不穩(wěn)定該如何處理？

1）檢查分析方法是否正確，如分析模型、分析程序等；

2）儀器本身穩(wěn)定：檢查儀器光室溫度、內(nèi)部環(huán)境溫度、氣壓力是否滿(mǎn)足分析要求；

3）激發(fā)控樣：若控樣分析結(jié)果良好，說(shuō)明儀器性能不存在問(wèn)題，待測(cè)樣品可能存在偏析、縮孔、裂紋等缺陷；

4）控樣結(jié)果也存在較大問(wèn)題時(shí)，應(yīng)當(dāng)標(biāo)準(zhǔn)化；

5）清理火花臺(tái)，擦拭透鏡或平鏡，清理排污通道，更換氣等，然后重新校準(zhǔn)曲線(xiàn)；

6）外界條件符合要求：室溫、濕度在規(guī)定范圍內(nèi)；電源電壓穩(wěn)定；周?chē)鸁o(wú)大功率、強(qiáng)輻射電器運(yùn)作；地線(xiàn)連接良好等；

7）對(duì)部分基體中的特別元素需要延長(zhǎng)儀器穩(wěn)定時(shí)間。

若還存在問(wèn)題，請(qǐng)聯(lián)系鋼研納克售后工程師。

直讀光譜儀有哪些種類(lèi)？

直讀光譜儀可以有不同的劃分方法。

根據(jù)光柵所處的環(huán)境不同，可分為真空型和非真空型直讀光譜儀，其中非真空型直讀光譜儀又可分為空氣型直讀光譜儀（無(wú)法測(cè)定真空紫外波段的C、P、S、As等元素含量）和充惰性氣體型直讀光譜儀（可以測(cè)定真空紫外元素）；

根據(jù)儀器的結(jié)構(gòu)不同，又可分為多道直讀光譜儀和全譜直讀光譜儀，其中前者多采用光電倍增管作為檢測(cè)器，后者多采用陣列檢測(cè)器（如CCD）。

隨著CCD技術(shù)的不斷發(fā)展，直讀光譜儀開(kāi)始朝小型化、全譜型方向發(fā)展。小型化儀器功耗小，占用空間小且易于維護(hù)；全譜直讀光譜儀能夠獲得全波段范圍內(nèi)的光譜，滿(mǎn)足多基體分析要求，譜線(xiàn)選擇靈活，可以有效扣除光譜干擾，分析更準(zhǔn)確，而多道直讀光譜儀只能檢測(cè)有限數(shù)量的光譜，很難做到這一點(diǎn)。

直讀光譜儀

清洗激發(fā)臺(tái)的內(nèi)表面，主要是避免殘留內(nèi)壁的粉塵放電影響分析結(jié)果。通常每激發(fā)100—200次應(yīng)清理一次。電極與激發(fā)面之間的距離，必須按極距要求調(diào)整好，如果與激發(fā)面的距離太大，試樣不易激發(fā)，如果電極與激發(fā)面的距離太小，曝光時(shí)放電電流太大，以至于與儀器各參數(shù)不相匹配，使測(cè)定結(jié)果與實(shí)際結(jié)果之間有差異，影響測(cè)定的準(zhǔn)確性。因此必須將電極與激發(fā)面的距離調(diào)整準(zhǔn)確，清洗激發(fā)臺(tái)和電極后一定要重視這個(gè)問(wèn)題。