控制樣品的使用①、分析爐中樣品應(yīng)盡量采用同鋼種，接近含量的控制標(biāo)準(zhǔn)樣品。②、一個(gè)控制樣品很難滿(mǎn)足多元素分析的要求，盡量做到分析樣品的含量與控制標(biāo)鋼的成分接近。③、對(duì)特殊情況，個(gè)別元素接近邊緣規(guī)格或超過(guò)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定時(shí)，應(yīng)選擇適當(dāng)含量的標(biāo)鋼去進(jìn)行控制。④、應(yīng)隨時(shí)聯(lián)系電爐，取好光譜內(nèi)控制標(biāo)鋼，爐中快速分析，應(yīng)盡量采取澆注的控制標(biāo)鋼為好。⑤、對(duì)成品試樣，要注意樣品的狀態(tài)(指淬火，退火狀態(tài))選擇適當(dāng)?shù)目刂茦?biāo)鋼。組成：輻射源（光源）、色散系統(tǒng)、檢測(cè)系統(tǒng)、吸收池、數(shù)據(jù)處理機(jī)、自動(dòng)記錄器及顯示器等部件。 次數(shù)用完API KEY 超過(guò)次數(shù)限制

1882年，羅蘭發(fā)明了凹面光柵，即是把劃痕直接刻在凹球面上。凹面光柵實(shí)際上是光學(xué)儀器成象系統(tǒng)元件的合為一體的高元件，它解決了當(dāng)時(shí)棱鏡光譜儀所遇到的不可克服的困難。凹面光柵的問(wèn)世不僅簡(jiǎn)化了光譜儀器的結(jié)構(gòu)，而且還提高了它的性能。

國(guó)產(chǎn)直讀光譜分析儀器波耳的理論在光譜分析中起了作用，其對(duì)光譜的激發(fā)過(guò)程、光譜線(xiàn)強(qiáng)度等提出比較滿(mǎn)意的解釋。從測(cè)定光譜線(xiàn)的絕強(qiáng)度轉(zhuǎn)到測(cè)量譜線(xiàn)的相對(duì)強(qiáng)度的應(yīng)用，使光譜分析方法從定性分析發(fā)展到定量分析創(chuàng)造基礎(chǔ)。從而使光譜分析方法逐漸走出實(shí)驗(yàn)室，在工業(yè)部門(mén)中得到廣泛應(yīng)用。手持合金分析儀的是一種XRF光譜分析技術(shù)，可用于確認(rèn)物質(zhì)里的特定元素，同時(shí)將其量化。 次數(shù)用完API KEY 超過(guò)次數(shù)限制

手持合金分析儀的應(yīng)用：合金分析儀是基于X射線(xiàn)理論而誕生的，它主要用于航天、鋼鐵、石化、電力、制藥等領(lǐng)域金屬材料中元素成份的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)定。是伴隨世界經(jīng)濟(jì)崛起的工業(yè)和軍事制造領(lǐng)域必不可少的快速成份鑒定工具。

手持合金分析儀的是一種XRF光譜分析技術(shù)，可用于確認(rèn)物質(zhì)里的特定元素，同時(shí)將其量化。它可以根據(jù)X射線(xiàn)的發(fā)射波長(zhǎng)(λ)及能量(E)確定具體元素，而通過(guò)測(cè)量相應(yīng)射線(xiàn)的密度來(lái)確定此元素的量。如此一來(lái)，XRF度普術(shù)就能測(cè)定物質(zhì)的元素構(gòu)成。根據(jù)儀器結(jié)構(gòu)的不同，有可分為同時(shí)型多道直讀光譜儀和掃描型單道直讀光譜儀。 次數(shù)用完API KEY 超過(guò)次數(shù)限制