ICP-MS 電感耦合等離子體質譜法是將被測物質用電感耦合等離子體離子化后，按離子的質荷比分離，測量各種離子譜峰的強度的一種分析方法。自1983 年臺商品化生產以來，就在不斷改善中得到廣泛應用ICP-MS 技術的分析能力可以取代傳統的無機分析技術如電感耦合等離子體光譜技術、石墨爐原子吸收進行定性、半定量、定量分析及同位素比值的準確測量等。

鋼研納克PlasmaMS300電感耦合等離子體質譜儀icp-ms是將被測物質用電感耦合等離子體離子化后，按離子的質荷比分離，測量各種離子

譜峰的強度的一種分析方法。是20 世紀80

年代發(fā)展起來的新的分析測試技術。它以獨特的接口技術將ICP-MS 的

高溫（7000 K）電離特性與四極桿質譜計的靈敏快速掃描的優(yōu)點相結合而形成一種新型的元素和同位素分析技術，

可分析幾乎地球上所有元素。具有檢出限低，線性動態(tài)范圍寬，譜線簡單，干擾少，分析精度高，速度快，多元

素同時分析，檢測模式靈活等優(yōu)點。

現狀

ICP-MS全球裝機量已在8000臺以上，僅中國目前每年的新增裝機數就超過500臺。近三年來，國際上ICP?MS 的主要生產商推出了若干型號的四極桿式ICP-MS，如Agilent在2012年推出的8800型號、2014年推出的 7900型號，PerkinElmer于2014年推出的Nexion350系列型號、ThermoFisher于2012年推出的iCap-Q系列型號， 2014年德國耶拿完成對布魯克ICP-MS生產線的收購，并于今年2月推出的PlasmaQuant系列型號，而我國鋼研納克推出了國產ICP-MS PlasmaMS

300 。

四極桿ICP-MS的基本結構由進樣系統、離子源、錐及離子透鏡、四極桿分析器、真空系統和檢測器等硬件部

分組成（部分型號還包括用以消除干擾的反應池部分），此外還包括用于冷卻系統、氣體管路、儀器控制和數據 分析系統等支撐輔助部分。下面我們按照ICP-MS的每一個結構部分，看近年來的技術進展。

ICP-MS分析流程的建立

對于一種新基體的樣品來說，常規(guī)的分析路徑如下：

1.  酸化或溶解樣品

樣品一般需要先進行酸化溶解使目標元素溶解在液體中.

2.  選擇目標分析物和目標同位素

根據濃度范圍來選擇分析物和同位素。

3.  先進行掃描以便識別出存在的干擾

可以先進行半定量掃描，可以通過半定量掃描判斷大致存在哪些元素以及各個元素 的大致濃度范圍。

4.   選擇數據的采集模式以及校正曲線的類型

一般如果使用連續(xù)流的數據采集模式，會使用外標定量法。也有其他的數據評估方

法可以使用。

5.  選擇合適的內標元素

內標元素的使用可以校正由于時間或基體抑制效應引起的信號漂移。

6.  能進行基體匹配

將標樣的基體匹配到和您的樣品基體完全一致，可以將兩者之間的差異減小到小， 并且有助于得到更為準確的結果數據。

7.  進行質量控制校正（QC check）

在分析過程中插入另一來源的標樣(2nd  Source Standard)或者有證標準物質 (Certified Reference Material)，確保數據的完整性。